[发明专利]积层陶瓷电子元件的制造方法有效
申请号: | 00126278.5 | 申请日: | 2000-06-30 |
公开(公告)号: | CN1285598A | 公开(公告)日: | 2001-02-28 |
发明(设计)人: | 大塚幸司 | 申请(专利权)人: | 太阳诱电株式会社 |
主分类号: | H01G4/30 | 分类号: | H01G4/30;H01G13/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 魏金玺,邰红 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 陶瓷 电子元件 制造 方法 | ||
1.一种积层陶瓷电子元件的制造方法,该方法是包括对在内部由陶瓷层(7)和以贱金属膜形成的内部电极(5)、(6)数层交替形成积层的未烧成陶瓷积层体(3)进行脱粘合剂处理的工序,和对脱粘合剂处理的未烧成陶瓷积层体(3)进行烧成的工序的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是使脱粘合剂后的陶瓷积层体(3)中的有机物含量为0.5~8.5重量%。
2.根据权利要求1记载的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是使上述脱粘合剂后的陶瓷积层体(3)中含1.0~5.0重量%的有机物。
3.一种积层陶瓷电子元件的制造方法,该方法是包括对在内部由陶瓷层(7)和贱金属膜形成的内部电极(5)、(6)数层交替形成积层的未烧成陶瓷积层体(3)进行脱粘合剂处理的工序,和对脱粘合剂处理的未烧成陶瓷积层体(3)进行烧成的工序的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是将内部电极(5)、(6)的脱粘合剂起始温度设定为高于陶瓷层(7)的脱粘合剂起始温度。
4.一种积层陶瓷电子元件的制造方法,该方法是包括对在内部由陶瓷层(7)和以贱金属膜形成的内部电极(5)、(6)数层交替形成积层的未烧成陶瓷积层体(3)进行脱粘合剂处理的工序,和对脱粘合剂处理的未烧成陶瓷积层体(3)进行烧成的工序的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是在对未烧成陶瓷积层体(3)进行脱粘合剂的处理工序中,将未烧成的陶瓷积层体(3)装入脱粘合剂炉内时,使用网孔比未烧成陶瓷积层体(3)小的容器。
5.根据权利要求1-4中任一项记载的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是在脱粘合剂处理工序中使用环境气。
6.根据权利要求5记载的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是上述环境气含惰性气体。
7.根据权利要求1-6中任何一项记载的积层陶瓷电子元件的制造方法,其特征是在脱粘合剂处理工序中,使脱粘合剂炉内压力高于大气压。
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