[发明专利]发光化合物半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 00128644.7 申请日: 2000-09-18
公开(公告)号: CN1344035A 公开(公告)日: 2002-04-10
发明(设计)人: 林明德 申请(专利权)人: 连勇科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01S5/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波
地址: 台湾省*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 发光 化合物 半导体 装置 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种发光化合物半导体装置,包括:

一绝缘基板;

一第一GaN型半导体层,形成于该绝缘基板的顶表面上,该第一GaN型半导体层的中央部分的表面高于该第一GaN型半导体层的周缘部分的表面;

一有源层,形成于该第一GaN型半导体层的中央部分的表面上方,用以产生光;

一第二GaN型半导体层,形成于该有源层上方;

一第一电极,形成于该第二GaN型半导体层上;以及

一导电层,经由涂覆而覆盖该绝缘基板侧壁与底表面且电连接于该第一GaN型半导体层的侧壁。

2.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,还包括:

一第二电极,形成于该第一GaN型半导体层的周缘部分的表面,且未电连接至该有源层、该第二GaN型半导体层、与该第一电极,

其中该导电层电连接于该第二电极。

3.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,还包括:

一附着层,夹于该绝缘基板的侧壁与底表面和该导电层之间。

4.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,其中该导电层形成为一镜状反射器。

5.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,其中该导电层选自于由一铟锡氧化物层、一镉锡氧化物层、以及一氧化锌层所组成的族群中的一层。

6.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,其中该导电层为一薄金属层,其厚度处于0.001μm至1μm的范围内,由选自于由Au、Ni、Pt、Al、Sn、In、Cr、Ti、以及其合金所组成的族群中的一材料所形成。

7.一种发光化合物半导体装置的制造方法,包括下列步骤:

准备一绝缘基板;

形成一第一GaN型半导体层于该绝缘基板上;

形成一有源层于该第一GaN型半导体层上方,用以产生光;

形成一第二GaN型半导体层于该有源层上方;

分别蚀刻该第二GaN型半导体层、该有源层、与该第一GaN型半导体层的周缘部分,使得该第一GaN型半导体层的该周缘部分的显露表面低于该第一GaN型半导体层的中央部分的表面;

形成一第一电极于该第二GaN型半导体层上;以及

涂覆一导电层,以覆盖该绝缘基板的侧壁与底表面且电连接于该第一GaN型半导体层的侧壁。

8.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,还包括下列步骤:

形成一第二电极于该第一GaN型半导体层的周缘部分的显露表面上,且未电连接于该有源层、该第二GaN型半导体层、与该第一电极。

9.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,还包括下列步骤:

在涂覆该导电层的该步骤之前,形成一附着层于该绝缘基板的侧壁与底表面上。

10.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,其中该导电层形成为一镜状反射器。

11.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,其中该导电层选自于由一铟锡氧化物层、一镉锡氧化物层、以及一氧化锌层所组成的族群中的一层。

12.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,其中该导电层为一薄金属层,其厚度处于0.001μm至1μm的范围内,由选自于由Au、Ni、Pt、Al、Sn、In、Cr、Ti、以及其合金所组成的族群中的一材料所形成。

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