[发明专利]发光化合物半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 00128644.7 | 申请日: | 2000-09-18 |
公开(公告)号: | CN1344035A | 公开(公告)日: | 2002-04-10 |
发明(设计)人: | 林明德 | 申请(专利权)人: | 连勇科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01S5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光 化合物 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
1.一种发光化合物半导体装置,包括:
一绝缘基板;
一第一GaN型半导体层,形成于该绝缘基板的顶表面上,该第一GaN型半导体层的中央部分的表面高于该第一GaN型半导体层的周缘部分的表面;
一有源层,形成于该第一GaN型半导体层的中央部分的表面上方,用以产生光;
一第二GaN型半导体层,形成于该有源层上方;
一第一电极,形成于该第二GaN型半导体层上;以及
一导电层,经由涂覆而覆盖该绝缘基板侧壁与底表面且电连接于该第一GaN型半导体层的侧壁。
2.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,还包括:
一第二电极,形成于该第一GaN型半导体层的周缘部分的表面,且未电连接至该有源层、该第二GaN型半导体层、与该第一电极,
其中该导电层电连接于该第二电极。
3.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,还包括:
一附着层,夹于该绝缘基板的侧壁与底表面和该导电层之间。
4.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,其中该导电层形成为一镜状反射器。
5.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,其中该导电层选自于由一铟锡氧化物层、一镉锡氧化物层、以及一氧化锌层所组成的族群中的一层。
6.如权利要求1所述发光化合物半导体装置,其中该导电层为一薄金属层,其厚度处于0.001μm至1μm的范围内,由选自于由Au、Ni、Pt、Al、Sn、In、Cr、Ti、以及其合金所组成的族群中的一材料所形成。
7.一种发光化合物半导体装置的制造方法,包括下列步骤:
准备一绝缘基板;
形成一第一GaN型半导体层于该绝缘基板上;
形成一有源层于该第一GaN型半导体层上方,用以产生光;
形成一第二GaN型半导体层于该有源层上方;
分别蚀刻该第二GaN型半导体层、该有源层、与该第一GaN型半导体层的周缘部分,使得该第一GaN型半导体层的该周缘部分的显露表面低于该第一GaN型半导体层的中央部分的表面;
形成一第一电极于该第二GaN型半导体层上;以及
涂覆一导电层,以覆盖该绝缘基板的侧壁与底表面且电连接于该第一GaN型半导体层的侧壁。
8.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,还包括下列步骤:
形成一第二电极于该第一GaN型半导体层的周缘部分的显露表面上,且未电连接于该有源层、该第二GaN型半导体层、与该第一电极。
9.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,还包括下列步骤:
在涂覆该导电层的该步骤之前,形成一附着层于该绝缘基板的侧壁与底表面上。
10.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,其中该导电层形成为一镜状反射器。
11.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,其中该导电层选自于由一铟锡氧化物层、一镉锡氧化物层、以及一氧化锌层所组成的族群中的一层。
12.如权利要求7所述发光化合物半导体装置的制造方法,其中该导电层为一薄金属层,其厚度处于0.001μm至1μm的范围内,由选自于由Au、Ni、Pt、Al、Sn、In、Cr、Ti、以及其合金所组成的族群中的一材料所形成。
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