[发明专利]耳温计探测罩盖及其制造方法

权利要求书

1、一种耳温计探测罩盖，它包括罩套及环状基底；罩套系为厚度约0.001英寸红外线可穿透式的具有开放端及封闭端的套体，其封闭端形成平面视窗，罩套的截面由开放端向封闭端呈渐缩小状；罩套以开放端与环状基底结合；其特征在于所述罩套外周面为平整面。

2、根据权利要求1所述的耳温计探测罩盖，其特征在于所述的罩套外周面为光滑的平整面，其内周面有制造过程中遗留的切痕。

3、根据权利要求1所述的耳温计探测罩盖，其特征在于所述的罩套外周面为有制造过程中遗留的甚微小切痕的平整面。

4、一种耳温计探测罩盖的制造方法，其特征在于它包括下列步骤：

步骤一

形成可令红外线穿透的膜片；

步骤二

使用罩套模藉由高压气体形成具封闭端及开放端罩套胚，封闭端形成平面视窗，外周面由开放端至封闭端形成复数余料；

步骤三

将余料热压形成凸片；

步骤四

切除凸片形成具有平整外周面的罩套；

步骤六

以罩套的开放端与环形基座结合。

5、根据权利要求4所述的耳温计探测罩盖的制造方法，其特征在于所述的步骤二使用的罩套模与耳温计探测部形状相近，其具有封闭端及开放端，自开放端至封闭端的圆周面轴向均设数条狭长开口；将罩套模置于膜片上，并由罩套模开放端向模片以高压空气施压，令膜片多余的材料自罩套模圆周面上数条开口压出。

6、根据权利要求4所述的耳温计探测罩盖的制造方法，其特征在于所述的步骤四与步骤六之间还包括步骤五；其为将罩套翻面，以将罩套遗留有数个切痕的外周面翻转成内周面，以形成光滑外周面的平整外周面。