[发明专利]耳温计探测罩盖及其制造方法

说明书

本发明属于医疗器具部件及其制造方法，特别是一种耳温计探测罩盖及其制造方法。

在疾病的诊断过程中，医用温度计经常提供极大的帮助。在所有的测量部位中，耳膜的温度比口腔、直肠或腋下的温度更能代表身体内部的温度。目前通常藉由侦测耳道中从耳膜放射出的红外线辐射来测量耳膜的温度。另外，使用红外线温度计为病患者量体温时，所需的测量时间也较短。因此，红外线耳温计的使用越来越普遍。

为了测量耳道中的红外线辐射，耳温计的探测部前段需伸入外耳道中，方能感测耳膜发出的红外线辐射，藉以测量耳温。然而使用红外线耳温计测量不同疾病患者的体温时，很可能造成污染及疾病的传染，为了防止这种情况发生，红外线耳温计的探测部外均套设有一次性罩盖，于每测量过一位患者后，便将使用过的罩盖丢弃，并于探测部外套设新的罩盖后再对下一患者进行测量。

美国专利5163418公开了如图1所示的耳温计探测罩盖，其包括罩套31及环状基底32。

罩套31系由一片厚度约0.001英寸红外线可穿透式膜片制成，罩套31的封闭端形成平整状，并构成红外线窗口区311，其周壁312呈褶叠状。

环状基底32呈与温度计探测部相对应并密合状。

罩套31以其开放端的周围黏着于环状基底32上。当将罩盖的基底32套于红外线耳温计探测部时，使罩套31的红外线窗口区311平贴于红外线耳温计探测部前端入口。

这种形式罩盖的缺点为当罩盖进入耳道中时，不仅因罩套周壁312的褶叠痕会刮到耳道表皮，令人感到非常不舒服，而且罩套32本身受挤压时会发出相当大的噪音。另外，将此种形式的罩盖套设于红外线耳温计探测部时，其罩套31上的红外线窗口区311可能会出现皱摺，导致红外线的杂散辐射(StrayRadiation)而影响所测温度的准确性。

美国专利5088834公开了如图2所示的耳温计探测罩盖，其包括一体成形的平截头形罩套41及基底42。

罩套41系由红外线可穿透式材料一体制成并与红外线耳温计的探测部相互吻合，其自开放端至远侧封闭端的厚度呈渐薄状，以使得位于远侧封闭端的红外线窗口区411的厚度约0.001至0.0005英寸之间而为最薄状。基底42接合在罩套41近侧开放端周围，用来将罩盖固定在红外线耳温计的探测部上。此种结构的罩盖因无褶痕，使用上较为舒适。但其亦存在缺点，即：因罩套41系由开放端藉材料加压塑性变形延展到封闭端，其塑性变形距离甚长，其厚度约自0.03英寸渐缩至0.0005英寸，在制造过程中品质的控制较为困难。

本发明的目的是提供一种使用舒适、测温准确、制造加工容易、便于控制产品质量的耳温计探测罩盖及其制造方法。

本发明罩盖包括罩套及环状基底；罩套系为厚度约0.001英寸红外线可穿透式的具有开放端及形成平面视窗封闭端的套体，其外周面为平整面；罩套以开放端与环状基底结合；

本发明罩盖制造方法包括下列步骤：

步骤一

形成可令红外线穿透的膜片；

步骤二

使用罩套模藉由高压气体形成具封闭端及开放端罩套胚，封闭端形成平面视窗，外周面由开放端至封闭端形成复数余料；

步骤三

将余料热压形成凸片；

步骤四

切除凸片形成具有平整外周面的罩套；

步骤六

以罩套的开放端与环形基座结合。

其中：

罩套外周面为光滑的平整面，其内周面有制造过程中遗留的切痕。

罩套外周面为有制造过程中遗留的甚微小切痕的平整面。

使用的罩套模与耳温计探测部形状相近，其具有封闭端及开放端，自开放端至封闭端的圆周面轴向均设数条狭长开口；将罩套模置于膜片上，并由罩套模开放端向模片以高压空气施压，令膜片多余的材料自罩套模圆周面上数条开口压出。

步骤四与步骤六之间还包括步骤五；其为将罩套翻面，以将罩套遗留有数个切痕的外周面翻转成内周面，以形成光滑外周面的平整外周面。