[发明专利]布线基板、半导体装置及其制造、检测和安装方法、电路基板和电子装置无效

专利信息
申请号: 00803311.0 申请日: 2000-09-29
公开(公告)号: CN1339243A 公开(公告)日: 2002-03-06
发明(设计)人: 桥元伸晃 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02;H01L21/60;H01L21/311;H01L23/12;H01L25/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 布线 半导体 装置 及其 制造 检测 安装 方法 路基 电子
【说明书】:

技术领域

发明涉及布线基板、半导体装置及其制造、检测和安装方法、电路基板和电子装置。

背景技术

将一片基板上装载有半导体芯片的第1部分弯折,使其与设置有外部端点的第2部分粘结,或将装载有半导体芯片的第1基板键合到设置有外部端点的第2基板上的结构的封装正在被开发。由于借助这些封装可以缩小平面形状,扩大基板的面积,因而有增加布线图形设计的自由度的优点,并能简单地构成层叠多个半导体芯片的叠层结构。

但是,正确地弯曲基板,将其重叠到正确的位置上是困难的。或者说,将多个基板键合到正确的位置是困难的。因此,在基板之中,由于重叠在其上的部分比形成外部端点的部分突出,所以存在封装的外形因产品而异的情形。这种场合,由于封装外形与外部端点的相对位置因产品而异,因而不能够以外形作基准进行外部端点的位置对准。

发明的公开内容

本发明正是为了解决上述问题的,其目的在于提供能简单地进行位置对准的布线基板、半导体装置及其制造、检测和安装方法、电路基板和电子装置。

(1)本发明的布线基板可形成有布线图形,并且有第1部分和与上述第1部分在平面上重叠的第2部分,

上述第1部分有用作定位基准的端部,

上述第2部分与避开上述第1部分的上述端部的区域在平面上呈重叠的形状。

另外,所谓平面上重叠,不一定限于接触重叠的方式。根据本发明,第2部分避开作为定位基准的端部与第1部分在平面上呈重叠的形状。因此,尽管第2部分与第1部分在平面上重叠,也能利用第1部分上作为定位基准的端部进行定位。

(2)在该布线基板中,

上述作为定位基准的端部,可含有互相正交的两条边。

据此,能依据两条边决定平面上的位置。

(3)在该布线基板中,

上述第1部分可包括呈矩形的本体部分和带有上述端部、并从上述本体部分的至少一条边延伸设置的凸部。

据此,可利用凸部,详细地说,利用凸部的两条边决定平面上的位置。

(4)在该布线基板中,

上述凸部由与上述本体部分为界的边、对与上述本体部分为界的边在垂直方向延伸的第1边、以及与上述本体部分为界的边平行的前端的第2边所围成的区域构成,作为上述定位基准的端部可包括上述第1边和上述第2边。

(5)在该布线基板中,

上述第1部分中的上述本体部分有未设置上述凸部的边,

上述第2部分可与未设置上述凸部的边相邻配置。

(6)在该布线基板中,

上述第2部分可有与上述第1部分的上述凸部相向的凹部。

(7)在该布线基板中,

可有多个作为上述定位基准的端部,其中至少一个上述端部形成了避开上述第1部分的上述本体部分的上述凸部的部分。

(8)在该布线基板中,

上述第1部分可形成比上述第2部分大的形状,上述正交的两条边形成上述第1部分的角顶。

(9)在该布线基板中,

上述第1部分其夹角可成直角,并形成包括上述正交的两条边的凹状端部。

(10)在该布线基板中,

上述多个端部可形成多个孔。

(11)在该布线基板中,

可在上述第1部分上连续延伸设置上述第2部分。

(12)在该布线基板中,

从上述第1部分分离,形成上述第2部分,上述第1和第2部分可由上述布线图形进行连接。

据此,由于第1和第2部分分离,所以能够容易地在这两者之间弯曲或弯折基板。

(13)本发明的半导体装置包括至少一块半导体芯片;以及

具有第1部分和以与上述第1部分在平面上重叠的方式配置的第2部分,并装载有上述半导体芯片的基板,

上述第1部分具有作为定位基准的端部,

上述第2部分呈避开上述第1部分的上述端部的形状。

另外,所谓平面上重叠,不一定限于接触重叠的方式。根据本发明,第2部分呈避开作为定位基准的端部的形状。因此,尽管第2部分与第1部分在平面上重叠,也能利用第1部分上的作为定位基准的端部进行定位。

(14)在该半导体装置中,

可在上述第1部分上设置多个外部端点。

据此,由于第1部分上作为定位基准的端部与外部端点的相对位置固定,因而能利用作为定位基准的端部,简单地进行外部端点定位。此后,在检测半导体装置的电学特性时,只要将半导体装置插入插座中就可以了。另外,在向电路基板上安装半导体装置时,还能减少由外部端点的位置偏离而导致的废品产生率。

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