[发明专利]光栅匹配适配器的测试探针和测试印刷电路板的装置

权利要求书

1.一种电路板测试器的图案适配器的测试探针，其中所述测试探针(1)包括一用于接触电路板测试点的接触部(3)，所述接触部(3)被配置成圆锥逐渐变细到自由接触尖端(4)，所述接触部(3)的长度(L)至少为15mm，其在所述接触尖端(4)处的直径(d)小于0.2mm，所述接触部(3)的与所述接触尖端(4)相对的末端段(5)的直径(D)比所述接触尖端(4)的直径大至少0.1mm。

2.如权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述接触部(3)的长度(L)至少为20mm，且所述末端段(5)的所述直径(D)至少为0.3mm。

3.如权利要求1所述的测试探针，其特征在于，所述接触部(3)的长度(L)至少为30mm，且所述末端段(5)的直径(D)至少为0.4mm。

4.如权利要求1至或3之一所述的测试探针，其特征在于，所述接触尖端(4)的直径(d)小于或等于0.1mm。

5.如权利要求1至4之一所述的测试探针，其特征在于，所述接触尖端(4)为圆角。

6.如权利要求1至5之一所述的测试探针，其特征在于，邻接与所述接触尖端相对的所述末端段(5)的是一个直径不变的基部(2)。

7.如权利要求5所述的测试探针，其特征在于，所述基部(2)的长度至少为30mm。

8.如权利要求1至7之一所述的测试探针，其特征在于，所述测试探针(1)是通过粗成形和表面抛光制成的。

9.如权利要求8所述的测试探针，其特征在于，所述粗成形为研磨，而所述表面抛光为化学磨光。

10.如权利要求1至7之一所述的测试探针，其特征在于，所述测试探针(1)是通过激光机械加工制成的。

11.一种电路板测试器的图案适配器，包括彼此间隔排列的导板，其上设置导孔，用于容置测试探针，所述探针按照权利要求1至10任一所述配置，其中，至少有一些所述测试探针被彼此相对倾斜地排列在图案适配器中，以致于通过其接触尖端使它们非常靠近地间隔开来。

12.如权利要求11所述的图案适配器，其特征在于邻接所述接触尖端的所述间隔小于或等于0.3mm，或者小于或等于0.25mm则较佳。