[发明专利]光栅匹配适配器的测试探针和测试印刷电路板的装置

说明书

本发明涉及电路板测试器的图案适配器的测试探针。

这种图案适配器被用于将测试器的预定的规则格栅图案转换成待测试的电路板的通常不规则的测试点排列。这种图案适配器通常包括数个彼此分隔的导板，其上包括容置测试探针的导孔。测试探针被斜置在适配器内，以便可以将规则格栅图案的接触导点电气连接到电路板测试点，因为这些测试点通常偏离格栅图案的规则排列。

由于电路板上的电路板测试点的间距不断被减小，目前仅为0.3mm(2密耳)或0.25mm(10密耳)，所以，在适配器的面向测试物的这一侧上的测试探针必须以相应紧密的节距安排。

这就是为什么采用极细的测试探针作这种适配器，例如直径只有0.1mm或0.2mm。这些测试探针极不稳定，以致于适配器中必须设置许多导板；以确保可靠地引导测试探针。

还知道，这些测试探针的直径随区段而有不同，各段之间呈阶梯状过渡。测试探针上毗邻接触尖端的这段其直径最小，该接触尖端与待测电路板的测试点相接触，随著与接触尖端的距离增加，测试探针的直径呈阶梯形增大。与细测试探针比，这种阶梯状测试探针实质上较坚硬，其接触尖端的位置也可安排得彼此相当靠近。然而，邻接接触尖端的这段也很不稳定，以致于需要通过几个测试板被支承在图案适配器中。

德国实用新型DE 91 00 432 U1揭示一种用于电气图案适配器的测试探针。这种测试探针的自由端呈锥尖状，尖端包括一半径约50μm的球形圆头。此德国实用新型揭示该球形尖端的半径范围在20至80μm之间。

德国实用新型DE 298 10 384 U1揭示锥尖型测试探针，但未指示测试探针的粗细。

DE 37 36 689 A1及DE 36 39 360 A1描述的探针具有锥尖型尖端，在远离测试尖端的一端包括一球形头部。这种探针的最大针杆直径为1.3至1.4mm，而其头部直径约2mm。未指出接触尖端的直径。

DE 44 17 811 A1揭示的探针特征在于用于接触一触点的极短的锥形尖端。

DE 44 39 758 A1揭示一种测试适配器的测试探针，其特征同样在于构造成短而呈锥形的尖端。此尖端是通过研磨而成的。该引证文件显示的适配器包括部分倾斜排列的测试探针。

DE 36 20 947 A1显示一种测试探针，由恒定截面的金属线构成，其直径小于0.2mm。此外还显示一种更尖型的测试探针。

US 4,403,822显示一种尖形测试探针，但未指出测试探针的粗细。

DE 44 297 58 C2说明由0.15mm至0.5mm粗的细金属线制成的测试探针。这些测试探针设有一短的尖端。

DE 196 54 404 A1提及一种非常复杂的方法来测试节距问隔200μm的电路板，其中通过一转换器箔片的手段使包括多个测试探针的适配器接触节距非常紧密的触点。该申请使人清楚，没有可接触节距紧密触点的直接方法。

DE 43 23 276 A1说明在适配器中使用光滑无轮廓的音乐钢丝线探针。在这种适配器中设一种实心材料体，测试探针通道穿透其间，在测试探针通道中可靠地引导细测试探针。这些测试探针的直径最高可达0.1mm。

德国实用新型DE 296 16 272 U1揭示一种适配器，其中具有内部调节装置。

本发明的目的是提供一种电路板测试器的图案适配器的测试探针，此探针针对稳定性以及在图案适配器中两相邻测试探针的测试尖端间实现紧密节距而最佳配置。

通过具有权利要求1所述特征的测试探针可达到此目的。从其他附属权利要求可了解本发明的诸优点方面。

根据本发明的电路板测试器的图案适配器的测试探针特征在于，该测试探针包括一个用于接触电路板测试点的接触部，该接触部的外型为向自由接触尖端呈锥状渐尖细。接触部的长度至少为15mm，在所述接触尖端处的直径小于0.2mm，接触部的与所述接触尖端相对的一端的直径比接触尖端的大至少0.1mm

接触部朝接触尖端呈锥状渐细代表了适合于接触节距极紧密的电路板测试点上的极细测试探针与增加了稳定性的并在图案适配器中较易引导(即只需较少导板)的较粗测试探针之间的最佳折衷。