[发明专利]光纤的自动测试和测量的方法和设备

权利要求书

1.一个自动测试光纤的系统，其特征在于，包括：

至少一个自动测试台适合于引导光纤的第一端到第一个测试装置并对光纤进行测试；以及

适合传送光纤到测试台的自动传送系统。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述至少一个测试台另外适合于：剥离光纤第一端的涂层。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述至少一个测试台另外适合于：剥离光纤第二端的涂层；并且引导光纤的第二端到第一个测试装置。

4.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述至少一个测试台另外适合于：切割光纤的第一端。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述至少一个测试台另外适合于：清洁光纤的第一端。

6.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述至少一个测试台另外适合于：得到光纤的一段样品；并且对光纤的这段样品进行测试。

7.一个自动测试光纤的系统，其特征在于，包括：

光纤绕于其上的线盘；

第一个台子用于自动：

    从光纤的第一端和第二端剥去涂层；

    切割光纤的第一端和第二端；

第二个台子，它包括了第一个测试装置，所述第一个或第二个台子中的一个适于：

引导光纤的第一端和第二端到第一个测试装置；

对光纤进行第一个测试；并且

适合用于把线盘从第一个台子传送到第二个台子的自动传送系统。

8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，

所述第一个台子另外适于清洁光纤的第一端和第二端；并且

第二个台子另外适于切割光纤的第一端和第二端。

9.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第二个台子另外适于：

牵引光纤的第一端和第二端；

从第一端切割第一段光纤；

从第二端切割第二段光纤；

丢弃第一和第二段光纤。

10.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第一个测试包括了使用光学时域反射计确定光纤的光学衰减的测量。

11.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第一个测试包括了确定光纤的光学色散的测量。

12.如权利要求7所述的系统，其特征在于，另外包括了：

用于装载线盘的一个托板架；

一个附在托板架上的适于容纳数据的射频(RF)标签，数据包括了线盘识别数据，测试过程指示和测试结果；以及

位于邻近自动传送系统的多个RF标签装置，它们适于对RF标签读出和写入数据。

13.如权利要求7所述的系统，其特征在于，另外包括了：

第三个台子，它适于：

得到光纤的一段测试样品；

引导光纤的这段测试样品到第二个测试装置；并且

对光纤的这段测试样品进行第二个测试；

其中，这里的自动传送系统适合把线盘从第二个测试台传送到第三个测试台。

14.一个自动测试光纤的系统，光纤包括了第一端和第二端，其特征在于，系统包括了：

一个线盘，上面缠绕着光纤；

第一个测试台，第一个测试台适于：

    操作光纤的第一端和第二端；  

    引导光纤的第一端到第一个测试装置；并且

对光纤进行第一个测试；以及

第二个测试台，第二个测试台适于：

    得到光纤的一段测试样品；

    引导这段测试样品到第二个测试装置；

对光纤的这段样品进行第二个测试；

自动传送系统适合把线盘从第一个测试台传送到第二测试台。

15.一种自动测试光纤的方法，其特征在于，它包括以下步骤：

从一个光纤储藏线盘得到至少光纤的一端，并且引导所述至少光纤的一端到光纤测试装置；并且

用光纤测试装置测试所述光纤。

16.如权利要求15所述的方法，其特征在于，另外包括了，在所述取得步骤以前，传送所述的储藏在光纤储藏线盘上的光纤到一个位置，在那里，所述光纤能够到达并被引导到所述测试装置。