[发明专利]光纤的自动测试和测量的方法和设备无效

专利信息
申请号: 00815808.8 申请日: 2000-10-24
公开(公告)号: CN1390299A 公开(公告)日: 2003-01-08
发明(设计)人: E·R·安德森;R·E·布拉热克;W·J·基什 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G02B6/44
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 李家麟
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光纤 自动 测试 测量 方法 设备
【说明书】:

发明领域

本发明一般涉及光纤制造的改进。更明确的说,本发明涉及自动测试缠绕在线盘上光纤的方法和设备。

发明背景

在当前的光纤制造工艺中,光纤一般盘绕在线盘上用于测量和测试,运给用户,和随后在用户设备上的处理。现在,通过许多技师和用手推着的装载着许多个线盘的手推车来往于测试台之间来用手进行光纤的测量和测试。在一个测试台,技师从手推车上取下线盘并把线盘放在测量架上。技师然后剥去光纤两端的塑料光纤外层,清除过多的外层和任何残留的碎片。技师把光纤端部放入切割机并切割。然后,技师把光纤端部装入计算机控制的测量系统并开始一个测量次序来测试光纤的至少一个参数,比如,光纤截止波长,衰减,光纤扭曲,包层直径,或涂层直径。然后从测试系统取下光纤并把线盘放回手推车。可以按需要测试手推车上的所有线盘或只是选择的线盘。接着用手把手推车推到下一个测试台进行另一系列测试。大量的手工劳动导致了光纤高的劳动成本和更高的制造成本。

因此,使光纤测试和测量的手工步骤自动化将十分有利,它可以减少测试和测量区域需要的时间从而减小光纤制造的成本并提供更快的光纤制造工序反馈。另外,提供光纤自动测试的方法和设备也十分有利,它可以减小人为差错几率并提供重复性更好的工序。

                       发明概要

本发明为光纤测试自动化提供了有利的方法和设备。本发明包括了一个自动转运系统,它把装在托板架上的光纤线盘从一个测试台移到另一个测试台。根据本发明的一个方面,单一的线盘由一个特别设计的托板架运送,下面会另外描述托板架的许多有利特点。根据本发明的另一个方面,当线盘一到达该设备时,该设备就自动的对光纤端部剥离,清洁并切割。光纤端部然后被自动地放入合适的位置来进行预定测试。根据本发明的另一个方面,一个设备自动地获得光纤的一段样品并对样品的光纤端部剥离,清洁并切割。光纤的一段样品然后被放入一个合适的位置以来进行第二个预定测试。

那些技术上的能手将通过下面的详细描述和附图一起清楚本发明的这些和其它的特征,方面和优点。

                         附图概述

图1示出了按照本发明使用的线盘图。

图2示出了按照本发明的托板架的等比例图。

图3A,3B,3C,3D分别示出了按照本发明的托板架的顶部,前面,侧面和等比例图。

图4示出了图2中的托板架装载着图1中的线盘的等比例图。

图5示出了按照本发明的另一个方面的托板架装载着图1中的线盘的等比例图。

图6A,6B,6C,6D分别示出了按照图5的托板架的顶部,前面,侧面和等比例图。

图7示出了图5中的托板架装载着图1中的线盘的等比例图。

图8是按照本发明的光纤自动测试系统的全貌图。

图9是适合用作图8中系统的准备台的详细图。

图10A是适合用作图8中系统的光学时域反射计和光学色散测试台。

图10B是按照本发明的自动执行图10A中光学时域反射计和光学色散测试方法的流程图。

图11A是适合用作图8中系统的玻璃测量和截止波长测试台的详细图。

图11B和图11C是按照本发明的自动执行图11A中玻璃测量和截止波长测试方法的流程图。

图12A是适合用作图8中系统的光纤偏差测试台和涂层几何测试台的详细图。

图12B是按照本发明的自动执行图12A中光纤偏差测试和涂层几何测试方法的流程图。

图13A是适合用作图8中系统的偏振模式色散测试台的详细结构图。

图13B和图13C是按照本发明的自动执行图13A中偏振模式色散测试方法的流程图。

图14示出了适合用作图8中系统的卸载台的详细图。

                     详细描述

现在引用附图更详细的描述本发明,示出了本发明的几个现在最好的实施例。但是,本发明可以实施于各种形式而决不局限于这里列出的示范实施例。相反,这些典型的实施例被详细描述,这样所揭示的东西将彻底完整,并把范围,结构,操作,功能和本发明的潜在应用向那些技术能手充分的展示。

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