[发明专利]非挥发性内存控制电路及其控制方法有效

专利信息
申请号: 01109547.4 申请日: 2001-03-30
公开(公告)号: CN1378289A 公开(公告)日: 2002-11-06
发明(设计)人: 陈伟梵;俞大立 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247;G11C16/02
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 中国*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 挥发性 内存 控制电路 及其 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种非挥发性内存控制电路,适用于具有一源极、一漏极、一控制栅、以及一基体极的一非挥发性存储单元;该非挥发性内存控制电路包括:

一电压源;

一第一电荷泵电路,连接该电压源升压产生一第一正电压;

一字符线开关,选择该电压源和该第一正电压中的一者及于该控制栅;

一第二电荷泵电路,连接该电压源升压产生一第二正电压;

一源极开关,选择一接地电位和该第二正电压中的一者及于该源极;

一第三电荷泵电路,连接该电压源产生一第一负电压;以及

一基体极开关,选择该接地电位和该第一负电压中的一者及于该基体极。

2.如权利要求1所述的非挥发性内存控制电路,尚包括一分压电路,连接该电压源经分压产生该控制栅所建构的MOS晶体管架构的一门限电压值。

3.如权利要求1所述的非挥发性内存控制电路,其中,该非挥发性存储单元是设置于一N型半导体基板内的一P型井区内。

4.如权利要求1所述的非挥发性内存控制电路,其中,该非挥发性存储单元是设置于一N型井区内的一P型井区内,而该N型井区是形成于一P型半导体基板内。

5.一种非挥发性内存控制方法,适用于具有一源极、一漏极、一控制栅、以及一基体极的一非挥发性存储单元;该非挥发性内存控制方法,是于一抹除操作下,提供一正电压至该控制栅,而提供一负电压至该基体极。

6.如权利要求5所述的非挥发性内存控制方法,其中,当于该抹除操作下,该漏极和源极是呈高阻抗状态。

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