[发明专利]具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统无效
| 申请号： | 01110411.2 | 申请日： | 2001-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN1378259A | 公开（公告）日： | 2002-11-06 |
| 发明（设计）人： | 张国勇 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 穆魁良 |
| 地址： | 台湾省新竹*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 辨识 功能 半导体 管芯 测试 系统 | ||
1.一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，包括对复数待测管芯进行测试的复数测试频道，其特征在于：它包括：
一产生每一待测管芯的识别码且将每一识别码与每一测试频道相对的编码装置；
一对该些待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码的测试装置；
一自该测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码、并依据该些识别码将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的辨识装置。
2.如权利要求1所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该编码装置具有可设定其中一组开关状态而产生一个识别码的复数开关组，每一开关组连接于一高电位供应源及一低电位供应源与该测试装置之间。
3.如权利要求1所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该辨识装置包括：
复数开关组，每一开关组具有与该些识别码相对的复数开关，每一开关的一端连接至每一测试频道而另一端共同接收该些待测管芯的测试结果之一；
控制复数开关组从而使每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的复数选择器。
4.如权利要求1所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该测试装置包括互相一一配合并对每一待测管芯进行测试的复数测试机与测试模组。
5.一种具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，包括对一晶片上的复数待测管芯进行测试的复数测试频道，其特征在于：它包括：
一接收该晶片的接收装置；
一自该些测试频道接收并显示该些测试结果的显示装置；
一产生该晶片上每一待测管芯的识别码且每一识别码与每一测试频道相对的编码装置；
一对该些待测管芯进行测试而读取并转送每一待测管芯的测试结果与识别码的测试装置；
一自该测试装置接收每一待测管芯的测试结果与识别码、并依据该些识别码将每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的辨识装置。
6.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该编码装置具有可设定其中一组开关状态而产生一个识别码的复数开关组，每一开关组连接于一高电位供应源及一低电位供应源与该测试装置之间。
7.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该编码装置位于该接收装置中。
8.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该辨识装置包括：
复数开关组，每一开关组具有与该些识别码相对的复数开关，每一开关的一端连接至每一测试频道而另一端共同接收该些待测管芯的测试结果之一；
控制复数开关组从而使每一待测管芯的测试结果输出至一相对测试频道的复数选择器。
9.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该测试装置包括互相一一配合并对每一待测管芯进行测试的复数测试机与测试模组。
10.如权利要求5所述的具自动辨识功能的半导体多管芯测试系统，其特征在于：其中该接收装置与该显示装置整合于一测试处理机中。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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