[发明专利]容器密封表面区域的检测

权利要求书

1．一种用于检测容器(22)的精加工的装置，所述容器(22)具有一中心轴线(25)和一开口部，该口部由一与容器盖子啮合的轴向相对密封表面上(36)围绕，所述装置包括：

一个定位的发射一束平行线状光束(46)照射在容器的密封表面区域的光源(44)，以该线状光束在容器轴线的两侧完全穿过密封表面区域入射，该光束(46)包括一条具有长尺寸的与密封表面(36)垂直的线状光束和一条与容器轴线相切窄尺寸光束，光传感器装置(52)布置在与所述轴线共同的平面上，接收从容器的密封表面区域反射的所述线状光束，透镜装置(70)用于将容器密封表面区域反射的光线照射在所述光传感器上，并且装置(60)用于检测密封表面作为在所述光传感器装置反射的光线的入射位置的函数的在水平方向上的偏差，其特征在于：所述透镜装置(70)通过仅与所述公共平面平行的平面内的密封表面区域(36)的反射光线照射在所述传感器装置(52)上。

2．按照权利要求1所述的装置，其特征在于：透镜装置(70)和所述传感器装置(52)都包括一个仅用于从与所述公共平面平行的平面内的密封表面区域(36)反射的光线的全图像系统。

3．按照权利要求2所述的装置，其特征在于：所述传感器装置(52)包括一个垂直于所述长尺寸线状光束定位的光感元件的直线阵列传感器(58)。

4．按照权利要求3所述的装置，其中所述透镜装置(72)包括一个圆柱形透镜(72)和一个菲涅耳或球面透镜(74)，并且其中所述直线阵列传感器(58)位于所述菲涅耳或球面透镜的焦点处。

5．按照上述任一权利要求所述的装置，其中所述偏差检测装置(60)包括用于检测容器口部外径之间的相对侧面的高度差的装置，该高度差作为从所述外径的相对侧面反射的光线入射在所述传感器装置的位置差的函数。

6．按照上述权利要求中1-4所述的装置，还包括用于夹持容器处于所述光源(44)和所述传感器装置(52)下面的稳定位置并转动容器围绕其轴线转动的装置(20、26)。

7．按照上述权利要求中1-4所述的装置，还包括用于在所述光源(44)和所述传感器装置(52)下面在垂直于所述轴线方向上输送容器的装置(64)。

8．一种用于检测容器的端部的装置，所述容器的端部具有一中心轴线和一开口部，通过一轴向相对的围绕在口部密封表面上，所述方法包括以下步骤：

(a)在检测状态下，向下发射一束平行线状光束照射在容器的密封表面区域，这样，所述的线状光束切向地穿过容器密封表面区域并在容器口部的两侧入射，

(b)从仅处于与容器轴线平行的平面内的容器的密封表面区域反射的光线照射在光传感器上，并且

(c)检测密封表面作为在从密封表面区域两侧反射的在所述光传感器入射位置的函数的在水平方向上的偏差。