[发明专利]容器密封表面区域的检测

说明书

本发明涉及容器的检测，尤其涉及一种用于检测容器密封表面区域的生产偏差的方法和装置。

专利US3313409公开了一种用于检测玻璃容器的装置，其中，链轮输送容器顺序通过一系列检测站。在其中的一个检测站上，每个容器选择了一些尺寸参数通过容器与辊子的接触进行检测，辊子与传感器相连接，并转动容器围绕其中心轴线转动，使传感器所提供的输出信号与容器参数偏差的函数成正比。尤其是，由于容器的转动，容器的高度、密封表面的弯曲和倾斜、及翘曲的容器端部的定位是通过与容器密封表面啮合的辊子来测量的。该辊子与提供表征在密封表面上高度(水平)的偏差或偏离的模拟电信号的LVDT传感器连接。如果测量信号偏离所希望的标准及特殊情况时，这些所提供的适当的电信号驱动一个用于将容器脱离输送线的伸缩柱塞。辊子与容器密封表面的接触受机械磨损的制约，并能导致密封表面的脏污。另外，辊子的尺寸在一些可以应用的有关方面限定了容器的尺寸，并且高度偏差尺寸(变化)能够被测量。该移动部件需要维护和修理。另外，该辊子的结构不适于测量任一线边缘的高度或密封表面盖子内的飞边。

专利US4945228公开了一种用于检测容器产品的密封表面区域的装置，该装置包括一个定位的用于照射密封表面的光源，此时，容器被稳定固定并围绕其中心轴线转动。一台摄像机，其中包括一个线性排列或矩阵(区域)排列的光感元件，这些光感元件相应于容器的转动轴定位和定向，并接收由密封表面反射的光线，该摄像机具有的一个有效的可视区域，该可视区域限定了一个小于容器密封表面的整个圆周的角部。摄像机阵列在容器转动的变化演变成每个排列元件上的表征光强度信息作为该变化的函数被扫描，作为这些信息的函数的容器密封表面区域的生产偏差被检测。该公开的该装置是一种很好地利用于容器密封表面起反射作用检测所产生的生产偏差，如：玻璃制品缺陷偏差、气泡、遮光加入物及容器表面的杂质。然而，所公开的装置不适用于测量容器表面的尺寸参数，如：容器密封表面的高度、容器密封表面的弯曲和倾斜、和/或在容器密封表面上的任一线边缘的高度或飞边(词“生产偏差”是指能够影响产品合格性的偏差，词“密封表面区域”不仅是指密封表面本身，还指任一线边缘、飞边或其它在密封表面上的生产偏差)。

专利US5489978公开了一种用于检测容器的密封表面区域的装置，包括一个定位的以锐角照射在容器密封表面区域的一窄束光线的光源，此时，容器围绕其中心轴线转动。一个用于接收从密封表面反射的一窄束光能的光传感器，提供了一个作为在传感器上的反射光束的入射角的位置变化的函数的输出信号。也就是说，反射光束入射在传感器上，在密封表面的水平或高度上相应于光源和传感器的位置变化，并且该传感器的特征在于提供了一个作为反射在传感器上的入射角的位置变化的函数的输出信号。在密封表面的高度上的偏差作为传感器输出信号的函数被检测。在一个实施例中，光源/传感器成对布置在容器轴向的相对外径的侧面，并且，容器的密封表面的弯曲、倾斜和/或翘曲作为当容器转动时在传感器上的反射光束的入射角的位置变化的复合函数被检测。

专利US5896195公开了一种用于检测容器端部的密封表面的装置，包括这样的配置，当容器相应于光源移动时、无论是横向移动还是转动，定位的光源以平行线状光束照射在容器密封表面区域。在容器密封表面区域上的线状光束具有一个垂直于容器轴线、并在弦的方向穿过密封表面区域的细长尺寸线状光束，一个与容器轴线相切的窄尺寸线状光束。所设置的光源用于接收从密封表面区域反射的线状光束的一部分，并提供了一个相应于光源和传感器的密封表面的高度或水平状态变化的电子输出信号。传感器与辅助电子装置连接，用于提供密封表面高度的表征信息。在容器密封表面区域的细长尺寸线状光束调节密封表面区域相应于光源和传感器的摆动和不对准。另外，在容器密封表面区域的线状光束的细长径向尺寸光束在传感器上从容器口部内的任一线边缘或飞边产生一个反射，这样，在传感器上便产生了任一线边缘或飞边的高度和实体的信息。