[发明专利]光头、光记录/再现装置和激光模件无效

专利信息
申请号: 01121083.4 申请日: 2001-06-14
公开(公告)号: CN1345042A 公开(公告)日: 2002-04-17
发明(设计)人: 涩谷义一 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张志醒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光头 记录 再现 装置 激光 模件
【权利要求书】:

1.一种供光记录/再现装置用的光头,包括:

两个光源,用于发出具有不同波长的光束;

两个检测器,独立安排成用于具有不同波长的激光束;和

一个衍射装置,用于将来自光记录介质的反射光束引导到具有相应波长的一个检测器上,

其中,所述光头利用从检测器得到的输出来检测光记录介质中的聚焦误差和跟踪差错;

来自两个光源的激光束从光记录介质上反射的光束同时由分开的光检测器件进行检测;和

当具有不同波长的两个光束之一聚焦在供记录/再现的光记录介质上时,光记录介质上的其他非聚焦测量光束的光点直径被设置成大于所述两个光束之一的光点直径。

2.如权利要求1所述的光头,其特征在于,光记录介质上非聚焦光束的光点直径设定为光记录介质上聚焦光束光点直径的2.5至15倍大。

3.如权利要求1所述的光头,其特征在于,产生不同波长的两种激光束的光源发出的激光束的出射方位是偏移的。

4.如权利要求2所述的光头,其特征在于,产生不同波长的两种激光束的光源发出的激光束的出射方位是偏移的。

5.一种光记录/再现装置,包括:

一个光头,该光头包括:

两个光源,用于发出具有不同波长的光束;

两个检测器,独立安排成用于具有不同波长的激光束;和

一个衍射装置,用于将来自光记录介质的反射光束引导到具有相应波长的一个检测器上,

其中,所述光头利用从检测器得到的输出来检测光记录介质中的聚焦误差和跟踪差错;

来自两个光源的激光束从光记录介质上反射的光束同时由分开的光检测器件进行检测;和

当具有不同波长的两个光束之一聚焦在供记录/再现的光记录介质上时,光记录介质上的其他非聚焦测量光束的光点直径被设置成大于所述两个光束之一的光点直径;以及

数学运算电路,以利用来自光检测器件的两个光束的信号输出求取一个跟踪差错信号。

6.如权利要求5所述的光记录/再现装置,其特征在于,所述数学运算电路,按照推挽方法从各光检测器件中去除跟踪差错信号,所述光检测器件是按推挽方法供来自原来的跟踪差错信号的非聚焦激光束用的,而原来的跟踪差错信号来自供聚焦激光束用的光检测器件,由此求取跟踪差错信号。

7.如权利要求6所述的光记录/再现装置,其特征在于,还包括一个极性选择电路,以借助一个指示当时使用的光记录介质的信号,改变供跟踪差错信号用的数学运算电路的输出的极性。

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