[发明专利]光头、光记录/再现装置和激光模件

说明书

本发明涉及一种使用光头的记录/再现装置和供该记录/再现装置及光头用的LD模件。

目前，市场上使用了多种类型的光盘，其中广为流传的是装有两种不同波长光源的光头，以适用于多种规格的盘。同时，有建议(如日本专利公开No.120568/1997所建议的)使用在单芯片上装有两种不同波长光源的激光模件(LD模件)。用装有这种LD模件的光头可使每种波长的光束各自按照用于记录/再现的光记录介质的类型启动而读取所需介质上的记录信号。

对于须要从光记录介质上读取信息的光检测器件，必须发出用于跟踪的差错信号和包含被记录信息的高频信号(通常称为RF信号)。对于单独的光束，需要有多种形式的多个设计方案。此外，这种光头须用一种将来自光源的发射光与来自光记录介质的反射光以同一光轴分离开来。用于这一目的激光模件要设计成包含这种分光的光检测器件和分离光的装置。

跟踪差错检测方法之一是一种3-束方法，如日本专利公开No.162457/1994所述。该方法用到专用于跟踪的两个侧光束和用于读取LD模件光记录介质(光盘是其一个代表性例子)上记录的信息的主光束。该方法的特征在于，使物镜在光盘径向移位而较少受到各个槽参数(例如位深和光盘尺寸)的影响，从而只引起小的DC偏置，由此保证有稳定的伺服性能。于是，此方法成为目前广泛使用的跟踪差错检测方法之一。

上述3-束方法的缺点在于，它不得不从主光束顶上发出两个分开的侧光束，这就降低了主光束的光量。此外，还须要用单独接收侧光束的光检测器件，这比其他方法要求预留更大的面积以供光检测器件之用。对于按常规分离的方法工作的光头，这一问题没有特别的影响，因为其中的元件或电路不是集成的，并且安排的是各有单项功能的部件。然而，在激光模件中，光源、光检测器件和光分离装置集成为一个单独的元件，因而很难保留供光检测器件用的区域使其不受返回光的影响。此外，在设有上述两种光源和独立的光检测器件的两波长激光模件中，该问题更为难办，须要用某种方法解决。

解决供光检测器件用的区域，即减小该器件安装面积问题的一种方法是使用不利用侧光束的跟踪方法。只用主光束而不用侧光束的这类方法包括：(1)用RF信号产生跟踪差错信号(以下称为TE信号)的方法，例如日本专利公开No.269588/1998所述的相位差检测方法以及外差法；(2)只用主光束而不用RF信号的方法，例如推挽方法。

这些方法中，方法(1)不能用于需要供非登录部分用的跟踪伺服的介质，例如CD-R和DVD-R。推挽方法要将接收主光束光点的反射光的光检测器件构成的一个检测器以跟踪方向上的一条分割线和径向上的一条分割线分离成四个器件。该推挽方法借助数学运算电路从每个光检测器件的输出中获得跟踪差错信号，并用该TE进行跟踪控制，当光点处在轨迹(凹坑)中央时，TE＝O，但光点偏向右或左时，TE＞O或TE＜O。

推挽方法(2)是获得跟踪差错信号的最简单方法，自从研究出光记录系统之初就已广泛应用。但是，用推挽方法，由光检测器件构成的检测器上的光点的位置和强度，在由跟踪线圈驱动的物镜相对于另一光学系统径向移动时，或光盘相对物镜倾斜时，可能发生变化。这会导致在产生的跟踪差错信号中出现直流变化。这种直流变化称为DC偏差。

当跟踪伺服信号中加有所包含的DC偏差分量时，跟踪性能明显变差，特别是使用的盘偏心度大时，可能使跟踪差错超出许可范围。因此，推挽方法通常都要使用消DC偏差的装置。

按照相关现有技术中的消DC偏差装置，已知的一种方法是，事先估计伴随有盘偏心度的DC偏差，适当倾斜后，在进行跟踪伺服的过程中校正编置量。已知相关技术中有另一种方法，其中将光头螺旋方向上的跟踪性能提高，以尽量减小透镜的移位。已知相关技术中的又一种方法是，在盘上取一块很小的区域(无轨迹或凹坑的区域)，在校正该小区域中的偏置时进行跟踪伺服。

这些方法须用复杂的信号处理装置、有良好响应特性的机械部分、或特定规格的盘。因此，这些方法通常难以实际应用。

鉴于现有技术中的这些问题，本发明的目的在于提供一种装有两种光源的光头或光记录/再现装置，该光头或光记录/再现装置具有减少DC偏差的能力，只需要比现有技术中更少数量的光检测器件和更小的设备安装面积，从而有利于减小尺寸，以及提供一种用于光头或光记录/再现装置的LD模件。