[发明专利]接触臂及采用该接触臂的电子零件试验装置无效

专利信息
申请号: 01122028.7 申请日: 2001-06-22
公开(公告)号: CN1336554A 公开(公告)日: 2002-02-20
发明(设计)人: 山下毅;清川敏之 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04;G01R1/073
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 马江立
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 接触 采用 电子零件 试验装置
【权利要求书】:

1.电子零件试验装置用接触臂,使被试验电子零件与接触部接触,其特征在于,备有保持头、浮动机构和流体压缸;

上述保持头用于保持被试验电子零件;

上述浮动机构,设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间,将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上;

上述流体压缸,设在上述驱动机构与上述保持头之间,调节从驱动机构对保持头的相对推压力。

2.如权利要求1所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,对上述的一个保持头,设有多个上述流体压缸。

3.如权利要求1所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,上述浮动机构,备有支承上述保持头的杆、和形成上述驱动机构侧并供上述杆贯通的贯通孔;在上述一个杆上,设有上述一个流体压缸。

4.如权利要求2所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,上述浮动机构,备有支承上述保持头的杆、和形成上述驱动机构侧并供上述杆贯通的贯通孔;在上述一个杆上,设有上述一个流体压缸。

5.如权利要求1所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,上述保持头的至少被试验电子零件保持部,是可装卸的。

6.如权利要求2所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,上述保持头的至少被试验电子零件保持部,是可装卸的。

7.如权利要求3所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,上述杆可相对于上述驱动机构装卸。

8.如权利要求4所述的电子零件试验装置用接触臂,其特征在于,上述杆可相对于上述驱动机构装卸。

9.交换组件,构成权利要求5记载的被试验电子零件保持部,其特征在于,做成为与上述接触部的配列和/或数目相应的、保持被试验电子零件的形状。

10.交换组件,构成权利要求6记载的被试验电子零件保持部,其特征在于,做成为与上述接触部的配列和/或数目相应的、保持被试验电子零件的形状。

11.交换组件,构成权利要求7记载的杆及保持头,其特征在于,做成为与上述接触部的配列和/或数目相应的形状。

12.交换组件,构成权利要求8记载的杆及保持头,其特征在于,做成为与上述接触部的配列和/或数目相应的形状。

13.电子零件试验装置,其特征在于,备有权利要求1记载的接触臂。

14.电子零件试验装置,其特征在于,备有权利要求2记载的接触臂。

15.电子零件试验装置,其特征在于,备有权利要求9记载的交换组件。

16.电子零件试验装置,其特征在于,备有权利要求10记载的交换组件。

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