[发明专利]单晶GaN基体的制造方法和单晶GaN基体无效
申请号: | 01122442.8 | 申请日: | 2001-07-09 |
公开(公告)号: | CN1332480A | 公开(公告)日: | 2002-01-23 |
发明(设计)人: | 元木健作;笠井仁;冈久拓司 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/20;C30B29/40 |
代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 范明娥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gan 基体 制造 方法 | ||
发明的技术领域
本发明是关于由3-5族氮化物系化合物半导体形成的在发光二极管(LED)和半导体激光器(LD)等发光装置中所用的单晶GaN基体的制造方法,及利用该法制得的单晶GaN基体。
现有技术
使用氮化物系半导体的发光装置,关于蓝色LED已达到实用化。以前,使用氮化物系半导体的发光装置,作为基体,几乎都使用兰宝石(Al2O3)。在兰宝石基体上外延生长成GaN、GaInN的薄膜。兰宝石是适宜GaN生长是非常稳定的基体材料。这一点是兰宝石的优点。
然而,兰宝石又是非常坚硬的材料。而且在LD中制作共振器时,没有很适宜的裂开性。因为不能进行自然裂开,必须进行机械切割,分割成晶体基片。存在的缺点是在发光二极管的制造过程中,由于切片工序而带来费用增高。在半导体激光器制造中,由于不能利用劈开制作反射面(共振器),所以带来质量问题和费用增高。
兰宝石是绝缘性基体。将兰宝石作基体的LED,不能像通常的LED那样,在装置的上下用作电极。必须采用工艺方法,利用腐蚀去除基片的一部分,使下层部分露面,设置电极,制作装置。在腐蚀后,必须在横向上通入电流成为比较厚的导电层。这些过程会增加工序次数、工序时间,而带来费用的增高。进而,在同一面上必须形成2处电极,所以也就需要更大面积的基片。这一点也会带来费用的增加。
由于兰宝石基片具有这样的缺点,所以提出可利用SiC基体,作为GaN系发光元件的基体。SiC具有裂开性。利用自然裂开即可很容地分割成LED的基片,利用自然裂开可形成半导体激光的共振器。由于具有导电性,所以可在基片的上下配置电极。所以利用工艺办法是很方便的。然而,SiC基体的价格极高。存在制造量少难以满足需要的缺点。除以上外,SiC基体还存在结晶质量的问题,不适宜作GaN系半导体的基体。
虽然兰宝石也存在那样的问题,但当使用象SiC那样的异质基体时,存在的问题是GaN和基体材料之间的晶格常数不匹配,在外延层中会导入数量较多的转位等缺陷。现在可以说使用目前市售兰宝石基体的装置,在其GaN外延层中存在1×109cm-2的转位数。
使用SiC基体时,可以说比兰宝石,转位密度多少要小些,存在1×108cm-2以上的转位。作为LED,大量的转位在实际应用中不会形成很大的障碍。但是,在电流密度格外大的半导体激光器(LD)时,很明显这些缺陷就成为阻碍半导体激光器寿命长短的重要原因。
从这些理由可知,兰宝石基体、SiC基体都不是最适宜于作蓝色发光元件(LED、LD)的基体。
最理想的基体是GaN单晶。若得到GaN单晶基体,完全不存在结晶晶格失配的问题。而且,GaN具有裂开性,也能获得导电性。预计确实是很理想的。然而,结晶制造技术却很不成熟。很难制造出可用作制造装置的具有实用尺寸的GaN单晶基体。
可以说,在保持平衡状态的超高压下,可以合成GaN晶体,然而,在超高压下却不能合成大的GaN晶体。所以,用这方法是不能制作大型的GaN基体,以该方法,以工业规模供应GaN基体是不可能实现的。
对上述的技术问题进行了深入研究,结果提出了一种方法,在兰宝石基体上通过带窗的面层进行气相生长GaN,可降低转位缺陷。在以下文献中有报导。
①碓井彰“通过氢化物VPE生长厚膜GaN晶体”电子情报通信学会论文志Vol.J81-C-II,No.l,P58-64(1998年1月)
②酒井朗、碓井彰“通过GaN选择横向生长而减少转位密度”应用物理第68卷第7号、P774-779(1999),等。
进而,本发明人在GaAs基体上,通过带窗的面层,已气相生长成GaN,并进一步发明了获得GaN基体的方法。
③特原平9-298300号
④特原平10-9008号
根据这种方法,可以生长成结晶缺陷密度比较低的大面积GaN晶体,这叫作外延横向附晶生长(Epitaxial Lateral Overgrowth:ELO),这里简单称为横向生长法。
具体讲,该方法是通过HVPE等的气相合成法,在GaAs基体上形成具有很多条状窗或圆形窗的面层,再在其上横向生长GaN后,除去GaAs基体,获得GaN基体。
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