[发明专利]半导体激光器的控制方法和半导体激光控制装置有效

专利信息
申请号: 01135986.2 申请日: 2001-10-29
公开(公告)号: CN1351330A 公开(公告)日: 2002-05-29
发明(设计)人: 小石健二;宫端佳之;臼井诚;金野耕寿;植木泰弘;上野智宪;长田丰;藤本亨 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社;日本胜利株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/004;G11B7/125;G11B11/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体激光器 控制 方法 半导体 激光 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体激光器的控制方法,对通过使用至少2个值以上的光功率值并按照数据信号对为在光盘上记录对应数据信号的标记区域而发光的半导体激光器进行调制而获得的光脉冲的各光功率值进行控制;其特征在于:

用数据信号来调制光脉冲,在把数据信号记录在光盘中的数据记录信号发光区间的跟前设置的测试发光区间中,用测试信号调制光脉冲,并接收该光脉冲,求出变换为电信号的光检测信号与相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过前馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值;

在所述数据记录信号发光区间中,接收用数据信号调制的光脉冲,求出以给定的采样间隔依次对变换为电信号的光检测信号进行采样所得到的值与相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过反馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器的控制方法,其特征在于:

在从开始进行光盘的记录动作的时刻到光头扫描光盘的第一次旋转的区间内,设置有所述测试发光区间和所述数据记录信号发光区间。

3.根据权利要求1所述的半导体激光器的控制方法,其特征在于:

在所述测试发光区间发光的测试发光由连续一定值发光和脉冲发光所构成。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器的控制方法,其特征在于:

在所述测试发光区间发光的测试发光由以下所述几种发光中的至少两种以上的发光构成:

用在所述数据记录信号发光区间的记录标记区域部分发光的记录光脉冲的峰值和谷值之间的电平来调制的脉冲发光;

谷值的连续一定值发光;

在记录间隔区域部分发光的间隔值的连续一定值发光。

5.根据权利要求1所述的半导体激光器的控制方法,其特征在于:

在所述数据记录信号发光区间内的记录标记区域部分的记录光脉冲由先头脉冲和多个多脉冲序列所构成;接收该记录标记区域部分的记录光脉冲,只对变换为电信号的光检测信号的所述多个多脉冲序列的平均值或所述多脉冲序列的平均值和所述光检测信号的谷值检波值依次进行采样,在记录间隔区域部分接收记录光脉冲,对变换为电信号的光检测信号的间隔值依次采样,通过与相当于光脉冲的目标功率值的基准值逐一进行比较运算,来进行反馈控制,使流到半导体激光器中的电流值变为目标功率值。

6.根据权利要求1所述的半导体激光器的控制方法,其特征在于:

在从开始光盘的记录动作的时刻到所述数据记录信号发光区间开始的所述测试发光区间中,把记录到光盘上的数据信号暂时存储在缓冲存储器中。

7.一种半导体激光器的控制方法,对通过使用至少2个值以上的光功率值并按照数据信号对为在光盘上记录对应数据信号的标记区域而发光的半导体激光器进行调制而获得的光脉冲的各光功率值进行控制;其特征在于:

用数据信号调制光脉冲,在把数据信号记录在光盘中的数据记录信号发光区间跟前设置的第一测试发光区间中,用第一测试信号调制光脉冲,接收该光脉冲,求出变换为电信号的光检测信号和相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过前馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值;

在第一测试发光区间的后面设置的第二测试发光区间中,用第二测试信号调制光脉冲,接收该光脉冲,求出以给定的采样间隔对变换为电信号的光检测信号依次采样后得到的值与相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过反馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值;

在所述数据记录信号发光区间中,接收用数据信号调制的光脉冲,求出以给定的采样间隔对变换为电信号的光检测信号依次采样后所得到的值和相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过反馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值。

8.根据权利要求7所述的半导体激光器的控制方法,其特征在于:

从开始光盘的记录动作的时刻,到光头在光盘的第一次旋转所扫描的区间内,设置有所述第一测试发光区间和第二测试发光区间;在到第二次旋转所扫描的区间内设置有所述数据记录信号发光区间。

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