[发明专利]半导体激光器的控制方法和半导体激光控制装置有效
申请号: | 01135986.2 | 申请日: | 2001-10-29 |
公开(公告)号: | CN1351330A | 公开(公告)日: | 2002-05-29 |
发明(设计)人: | 小石健二;宫端佳之;臼井诚;金野耕寿;植木泰弘;上野智宪;长田丰;藤本亨 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社;日本胜利株式会社 |
主分类号: | G11B7/00 | 分类号: | G11B7/00;G11B7/004;G11B7/125;G11B11/10 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体激光器 控制 方法 半导体 激光 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种为了在光盘上记录对应数据信号的标记区域而发光的半导体激光器的记录光功率的控制方法和控制装置。
背景技术
图8是表示现有的半导体激光控制装置结构的图。
用监视发光水平的光检测器2接收半导体激光器1所发的光,并将其变换为光电流,再用电流-电压变换器3转换为电压。
进行再现时,根据光控制极8的指令,采样保持电路5变为采样状态。通过把采样状态下的检测输出和再现功率设置值7用再现功率电流控制部件6进行比较输出,来进行反馈控制,使半导体激光器1的光输出变为再现功率设置值。
进行记录时,根据光控制极8的指令,采样保持电路5变为保持状态。另一方面,按照记录数据信号9,峰值开关部件10在峰值和所述被保持的再现功率值之间切换,用电流驱动半导体激光器1。
半导体激光器1所发出的脉冲光,由光检测器2接收,经过电流-电压变换后,用峰值检波4检测输出波形的峰值的包络线。通过用峰值电流控制部件11比较并输出该峰值检波4的输出和峰值功率设置值12,来进行反馈控制,使半导体激光器1的光脉冲峰值变为峰值功率设置值。
用图9来说明象这样构成的现有的半导体激光控制电路的主要部分的信号波形。
图9(a)是光控制极8,在定时13的时刻,它从再现状态被切换为记录状态。图9(b)是峰值检波4的输出,表示检测在记录状态下感光的脉冲波形的峰值包络线的状态。图9(c)表示用所述峰值电流控制部件11进行反馈控制的光脉冲的发光波形。图9(d)表示用这样进行反馈控制的光脉冲记录到光盘的轨道上之后,所再现的再现波形的包络线。
此处的光盘是指DVD-R和DVD-RW等光盘,即使分多次进行追加记录,记录完成的轨道也与DVD-ROM一样,其信号排列最好是连续的。即,续写的数据记录区域的记录开始端部与续写前的数据记录完成区域的记录结束端部之间,最好是不出现再现波形的包络线混乱现象,而是连续地连接在一起。本发明适用于DVD-R和DVD-RW等光盘,不适用于DVD-RAM。
可是,在以上所述结构中,由于反馈控制的响应性,所以如图9(c)的14所示,会产生发光波形峰值收敛到峰值功率设置值之前的响应时间。如果用象图9(c)的14那样的发光波形在光盘上进行记录,则如图9(d)15所示,所再现的再现波形的振幅随着发光波形的响应而劣化。
因此,在现有的半导体激光器的控制装置的结构中,存在着以下所述问题:即,续写的数据记录区域的记录开始端部的再现振幅劣化,当对DVD-R和DVD-RW等光盘进行追加记录时,信号振幅的连续性受到损害。
发明内容
鉴于以上所述问题的存在,本发明的目的在于:提供一种当对DVD-R和DVD-RW等光盘进行追加记录时,能通过高速地调整和控制记录光脉冲的功率值来防止再现振幅劣化的半导体激光器的控制方法及装置。
本发明1的半导体激光器的控制方法,对通过使用至少2个值以上的光功率值并按照数据信号对为在光盘上记录对应数据信号的标记区域而发光的半导体激光器进行调制而获得的光脉冲的各光功率值进行控制;其特征在于:
用数据信号来调制光脉冲,在把数据信号记录在光盘中的数据记录信号发光区间的跟前设置的测试发光区间中,用测试信号调制光脉冲,并接收该光脉冲,求出变换为电信号的光检测信号与相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过前馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值;
在所述数据记录信号发光区间中,接收用数据信号调制的光脉冲,求出以给定的采样间隔依次对变换为电信号的光检测信号进行采样所得到的值与相当于光脉冲的目标功率值的基准值之间的差,通过反馈控制把该差值收敛为给定值,使流到半导体激光器中的电流值变为相当于目标功率值的值。
本发明2的半导体激光器的控制方法,其特征在于:在本发明1的半导体激光器的控制方法中,在从开始进行光盘的记录动作的时刻到光头扫描光盘的第一次旋转的区间内,设置有所述测试发光区间和所述数据记录信号发光区间。
本发明3的半导体激光器的控制方法,其特征在于:在本发明1的半导体激光器的控制方法中,在所述测试发光区间发光的测试发光由连续一定值发光和脉冲发光所构成。
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