[实用新型]球栅阵列金属球封装元件的测试治具无效

专利信息
申请号: 01231692.X 申请日: 2001-07-23
公开(公告)号: CN2496035Y 公开(公告)日: 2002-06-19
发明(设计)人: 吴志成;杨昌国 申请(专利权)人: 吴志成;杨昌国
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/073
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 刘朝华
地址: 台湾省*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 阵列 金属 封装 元件 测试
【说明书】:

技术领域

本实用新型是一种球栅阵列金属球封装元件的测试治具,特别是指一种可降低生产成本,且可重覆使用及简易维修的测试治具,使测试成本可大幅降低。

背景技术

一般半导体元件在封装完成后,必须予以测试其电性或功能,将封装过程中种种因素所造成的不良品予以筛选。

参阅图1,传统的半导体封装元件测试方式,是将半导体封装元件10置放入一测试治具12内,测试治具12(Socket)包括有一座体14及多数个探针16,座体14形成有一配合半导体封装元件10尺寸的凹槽18,用以容置并定位住半导体封装元件10。每一探针16是依半导体封装元件10的待测点20位置固定于底座14内,其一端凸出于凹槽18内,用以与半导体封装元件10的待测点20接触,另一端凸出于底座14外侧,用以插置入一印刷电路板22预设的穿孔24内,再通过印刷电路板22将测试讯号传递至测试机(图未显示)上,以测试半导体封装元件10的电性或功能。

由于半导体封装元件10是直接与探针16压抵接触,因此,为了不损及到半导体封装元件10的待测点20,探针16必须设置成具有弹性效果,以增加半导体封装元件10与探针16间的缓冲力。

图2探针16的放大剖视图,探针16包括有外筒26、一弹性元件28设置于外筒26内及一针体30是插置入外筒26内,且压抵住弹性元件28,如是,探针16与半导体封装元件10间具有缓冲效果,可避免损及半导体封装元件10的待测点20。其具有如下的缺点:

1、探针16构造复杂,如采用更细微的探针时,其制造成本相当高昂;

2、探针16是固锁底座14上,当其中一探针16损坏时,无法更替,而必需将整个治具报费;

3、当半导体封装元件10的种类、型号不同,以致其待测点20位置不同时,该治具将无法使用,而必需予以报费,且探针16无法回收使用,造成资源的浪费及环保问题。

发明内容

本实用新型的主要目的是提供一种球栅阵列金属球封装元件的测试治具,通过针板上设有多数个对应于封装元件的多数个金属球的针孔;多数个弹性元件分别设置于该针板的针孔内;卡制装置是设于该针板上,其上相对于该针板的针孔位置形成有配合该金属球尺寸的多数个凹槽,克服现有技术的弊端,达到制造简便、降低测试成本的目的。

本实用新型的第二目的是提供一种球栅阵列金属球封装元件的测试治具,达到可回收重复使用、节省资源的目的。

本实用新型的第三目的是提供一种球栅阵列金属球封装元件的测试治具,达到便于维修和更换探针,及降低测试治具支出成本的目的。

本实用新型的目的是这样实现的:一种球栅阵列金属球封装元件的测试治具,其特征是:它包括有针板设有多数个对应于封装元件的多数个金属球的针孔;多数个弹性元件分别设置于该针板的针孔内;卡制装置是设于该针板上,其上相对于该针板的针孔位置形成有配合该金属球尺寸的多数个凹槽;多数个针体中的每一针体设有第一端点及第二端点,该第一端点是由该卡制装置的凹槽插入该针板的针孔内并与该弹性元件接触,该第二端点位于该卡制装置的凹槽内,与该封装元件的相对应的金属球接触;多数个导电元件上设有上端点及下端点,该上端点与该针板的针孔内的弹性元件接触,该将讯号传递至测试机的下端点则由该针孔露出;定位住该半导体封装元件的定位装置是设置于该针板上。

该针板包括有一上针板、中针板及一下针板,该上针板设有上针孔,该中针板设有中针孔,该下针板设有下针孔,该弹性元件位于该中针孔内,该卡制装置设于上针板上。该上针板与中针板间,以及该中针板及下针板间设有固定住该针体及导电元件的固定元件。该固定元件为能被该针体及导电元件刺穿的软性板,并夹持固定住该针体及导电元件。该针板包括有上针板及中针板,该上针板设有上针孔,该中针板设有中针孔,该导电元件的上端点是穿设入该中针板的中针孔内而与该弹性元件接触。该导电元件的上端点形成有容置该弹性元件的容室,而与该弹性元件接触。该上针板及中针板间设有固定住该针体的固定元件。该定位装置形成有将该半导体封装元件定位住的定位槽。该卡制装置的凹槽形成有使该针体穿设入该针孔内的穿孔。该针板设有多数个网格状纵横交错排列的针孔,该多数个弹性元件是分别置入对应于该封装元件的多数个金属球位置的该针板的针孔内,该多数个针体是插置于设有弹性元件的针孔内。

下面结合较佳实施例和附图进一步对本实用新型的目的与特征详细说明如下:

附图说明

图1为传统测试治具的剖视示意图。

图2为图1的探针的放大示意图。

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