[实用新型]电子元件检测装置无效
申请号: | 01278816.3 | 申请日: | 2001-12-19 |
公开(公告)号: | CN2522868Y | 公开(公告)日: | 2002-11-27 |
发明(设计)人: | 张正宽 | 申请(专利权)人: | 及成企业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘领弟 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子元件 检测 装置 | ||
1、一种电子元件检测装置,它包括具有导电特性的治具;于治具上安装由具不导电特性的塑料本体及具导电特性的金属薄板组成的待测物;金属薄板系平贴于塑料本体底面;设置于金属薄板上的复数个弯折片系沿塑料本体的复数缺槽弯折靠合于塑料本体顶面靠近凸出部的位置上;其特征在于所述的设置于治具上的金属薄板弯折片及塑料本体凸出部位置上方活动设置有测试元件;治具上方邻近测试元件处活动设置有与测试元件同步移动的接触元件;测试元件及接触元件之间接设有以两电极端与其连接的检测电路;于检测电路上设有讯号反应元件。
2、根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于所述的测试元件及接触元件组设于驱动器上并随驱动器动作分别压靠于待测物及治具上的同步位移。
3、根据权利要求2所述的电子元件检测装置,其特征在于所述的驱动器与测试元件相接的位置上设有套接部;测试元件延设滑动穿套并凸伸出套接部的杆体,并于杆体顶端设有藉以将杆体保持在套接部内的凸缘部,其面对待测物一端设有压靠部;于杆体上套设有位于测试元件压靠部与驱动器套接部之间的弹性元件,并令测试元件向待测物移动的距离小于弹性元件最大压缩位置至待测物之间的距离。
4、根据权利要求3所述的电子元件检测装置,其特征在于所述的测试元件压靠部底面设有与塑料本体凸出部中央突缘部相对应的凹陷部。
5、根据权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于所述的接触元件面对治具的端面设有至少一探针,探针设置于中空杆体内,其包括依序设置于中空杆体内的弹簧及针体,并令针体部分凸出于杆体一端。
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