[发明专利]电路基板的检查装置及检查方法

权利要求书

1.一种检查装置，组装有集成电路的电路基板的检查装置，其特征在于：包括：

驱动机构，驱动所述集成电路，以便由所述集成电路的多个输出端子依序输出信号；

检测机构，以非接触方式检测出连接于所述输出端子的多个电路布线的电压变化；

比较机构，将所述电压变化的大小与给定值相比较；

异常检测机构，根据所述比较机构的比较结果，检测所述电路布线的异常。

2.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于：

所述异常检测机构，在从所述检测机构中输出异常波形的情况下，依照该异常波形的时间轴上的位置，特定出有异常的电路布线。

3.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于：

所述检测机构，具备1个与所述多个电路布线非接触而相对向的传感器基板，检测所述多个电路布线内任一电路布线的电压变化。

4.如权利要求3所述的检查装置，其特征在于：

所述传感器基板包括：覆盖所述多个电路布线的大小的金属板；以及该金属板的一个输出端子。

5.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于：

所述检测机构将由所述多个电路布线顺序输出的脉冲信号的微分值的合计值，作为所述电压变化，输出在1个输出波形上。

6.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于：

在比较机构判断所述电压变化的大小为给定值以下的情况下，所述检测机构则判定与所述电压变化对应的电路布线上有断线。

7.一种检查装置，LCD驱动用的电路基板的检查装置，其特征在于：包括：

检测机构，以非接触方式检测出与LCD驱动用的LSI的各端子作一对一连接的全部电路布线的电压变化；

判断机构，判断所检测出的所述电压变化是否是正常的大小；

特定机构，在所述电压变化中发现异常时，由该电压变化的定时特定出有异常的电路布线。

8.如权利要求7所述的检查装置，其特征在于：

还包括驱动机构，驱动所述LSI，以便由所述LSI的各端子依序输出信号。

9.如权利要求7所述的检查装置，其特征在于：

所述端子为SEG(segment)端子，在所述电压变化比给定值小的情况下，所述判断机构判断与该电压变化对应的电路布线为断线。

10.如权利要求7所述的检查装置，其特征在于：

所述端子为COM(common)端子，在所述电压变化超过给定值的情况下，所述判断机构判断与该电压变化对应的电路布线为断线。

11.如权利要求7所述的检查装置，其特征在于：

所述判断机构，在所述电压变化超过给定值的情况下，判断与该电压变化对应的电路布线为短路。

12.如权利要求7所述的检查装置，其特征在于：

将定期性检测出的较大电压变化判定为帧(frame)反转的定时，

依照该较大电压变化之间的时间轴上的位置，特定出有所述异常的电路布线。

13.一种检查方法，组装有集成电路的电路基板的检查方法，其特征为：包括：

驱动步骤，驱动所述集成电路，以便由所述集成电路的多个输出端子依序输出信号；

检测步骤，以非接触方式检测出连接于所述输出端子的多个电路布线的电压变化；

比较步骤，将所述电压变化的大小与给定值相比较；

异常检测步骤，根据所述比较步骤的比较结果，检测所述电路布线的异常。

14.如权利要求13所述的检查方法，其特征在于：

所述异常检测步骤，在从所述检测步骤中输出异常波形的情况下，依照该异常波形的时间轴上的位置，特定出有异常的电路布线。

15.如权利要求13所述的检查方法，其特征在于：

所述检测步骤，具备1个与所述多个电路布线非接触而相对向的传感器基板，检测所述多个电路布线内任一电路布线的电压变化。

16.如权利要求15所述的检查方法，其特征在于：

所述传感器基板包括：覆盖所述多个电路布线的大小的1个金属板；以及该金属板的一个输出端子。