[发明专利]电路基板的检查装置及检查方法

说明书

技术领域

本发明涉及电路基板的检查装置及检查方法。

背景技术

在电路基板的制造当中，将电路布线设于基板上之后，必须要检查该电路布线是否有断线。

在公知技术中，是将各电路布线的两个点分别和接脚连接，通过将其间通电进行检查，以判别电路布线是否断线。

但是，如集成电路外围那样，当电路布线高密度化时，在各电路布线上没有充裕的空间可配置接脚。此外，非接触式的检查手法(例如日本专利特开平9-264919号)也已经提出，但是这样的情况也需要在电路布线的输入侧连接接脚，所以在如同集成电路外围的电路布线那样高密度并且非常短的情况下，设置工作非常麻烦并且耗时。

发明内容

本发明为解决上述课题而设，其目的在于提供一种能够快速检查电路基板的检查装置及检查方法。

为达到上述目的，本发明的检查装置是组装有集成电路的电路基板的检查装置，其特征为：具备：

驱动机构，驱动上述集成电路，以便由上述集成电路的多个输出端子依序输出信号；

检测机构，以非接触方式检测出连接于上述输出端子的多个电路布线的电压变化；

比较机构，将上述电压变化的大小与给定值相比较；以及

异常检测机构，基于上述比较机构的比较结果，检测上述电路布线的异常。

上述异常检测机构的特征是，在从上述检测机构输出异常波形的情况下，依照该异常波形的时间轴上的位置，特定出具有异常的电路布线。

上述检测机构的特征是，具备一个与上述多个电路布线非接触而相对向的传感器基板，检测上述多个电路布线内其中任何一个的电压变化。

上述传感器基板的特征是，包含：覆盖上述多个电路布线的大小的金属板、以及该金属板的一个输出端子。

上述检测机构的特征是，将由上述多个电路布线依序输出的脉冲信号的微分值的合计值，作为上述电压变化，输出在一个输出波形上。

在比较机构将上述电压变化的大小判断为给定值以下的情况下，上述检测机构的特征是，将对应与上述电压变化的电路布线判定为断线。

本发明的检查装置是LCD驱动用电路基板的检查装置，其特征为：具备：

检测机构，以非接触方式检测出与LCD驱动用LSI的各端子作一对一连接的全部电路布线的电压变化；

判断机构，判断所检测出的上述电压变化是否是正常的大小；以及

特定机构，在上述电压变化中发现异常时，由该电压变化的定时特定出具有异常的电路布线。

该检查装置的特征是，还具有驱动机构，驱动上述LSI，以便由上述LSI的各端子依序输出信号。

上述端子为SEG(segment)端子，其特征是，在上述电压变化比给定值更小的情况下，上述判断机构，判断与该电压变化对应的电路布线为断线。

上述端子为COM(common)端子，其特征是，在上述电压变化超过给定值的情况下，上述判断机构，判断与该电压变化对应的电路布线为断线。

该检查装置的特征是，上述判断机构，在上述电压变化超过给定值的情况下，判断与该电压变化对应的电路布线为短路。

该检查装置的特征是，能将定期性检测出的较大电压变化判定为帧(frame)反转的定时，依照该较大电压变化之间的时间轴上的位置，特定出有上述异常的电路布线。

为达到上述目的，本发明的检查方法是组装有集成电路的电路基板的检查方法，其特征为：具备：

驱动步骤，驱动上述集成电路，以便由上述集成电路的多个输出端子依序输出信号；

检测步骤，以非接触方式检测出连接于上述输出端子的多个电路布线的电压变化；

比较步骤，将上述电压变化的大小与给定值相比较；以及

异常检测步骤，根据上述比较步骤的比较结果，检测上述电路布线。

上述异常检测步骤的特征是，在从上述检测步骤输出异常波形的情况下，可依照该异常波形的时间轴上的位置，特定出具有异常的电路布线。

上述检测步骤的特征是，具备与上述多个电路布线非接触而相对向的传感器基板，检测上述多个电路布线内任一电路布线的电压变化。

上述传感器基板的特征是，包括：覆盖上述多个电路布线的大小的金属板；以及该金属板的一个输出端子。

上述检测步骤的特征是，将由上述多个电路布线依序输出的脉冲信号的微分值的合计值，作为上述电压变化，输出在一个输出波形上。