[发明专利]光记录/再现设备和跟踪误差信号检测方法有效

专利信息
申请号: 02105323.5 申请日: 2002-02-22
公开(公告)号: CN1372254A 公开(公告)日: 2002-10-02
发明(设计)人: 金建洙;黄仁郁;成平庸 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B21/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马莹,邵亚丽
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 记录 再现 设备 跟踪 误差 信号 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种光记录/再现设备,包括光拾取器和检测跟踪误差信号的信号处理器,其特征在于该光拾取器包括:

分光装置,用于把第一光源发射的光分解成一个主光束和对称于该主光束的至少两个副光束,并且使分解的光束照射到记录介质上,以便采用推挽方法和改进的推挽方法中的至少一种方法和三光束方法检测跟踪误差信号;和

光检测装置,用于接收由所述记录介质反射的主光束和副光束,并且将对应于所接收的光束的检测信号输出给所述信号处理器,和

所述信号处理器接收从所述光检测装置输出的检测信号,并采用推挽方法及改进的推挽方法中的一种方法和三光束方法检测跟踪误差信号,或者选择性地使用三光束方法、推挽方法和改进的推挽方法中的一种方法检测跟踪误差信号,以便实现最佳跟踪伺服控制。

2.根据权利要求1所述的设备,其中根据光记录/再现设备检测的记录介质类型信号,当所述记录介质仅仅是用于再现的预定记录介质时,通过使用三光束方法的跟踪误差信号来实现跟踪伺服控制,当所述记录介质是至少可以记录一次的预定记录介质时,通过使用推挽方法和改进的推挽方法中的一种方法的跟踪误差信号来实现跟踪伺服控制。

3.根据权利要求2所述的设备,其中所述分光装置把所述第一光源发射的光分解成主光束和至少四个对称于主光束的副光束,并且所述信号处理器包括:

第一检测部分,用于采用三光束方法从关于比较接近主光束的两个副光束的第一检测信号中检测跟踪误差信号;和

第二检测部分,用于采用改进的推挽方法从关于相距主光束较远的两个副光束的第二检测信号以及关于主光束的主检测信号中检测跟踪误差信号。

4.根据权利要求3所述的设备,其中所述信号处理器还包括:

安装在所述光检测装置与所述第一和第二检测部分之间或安装在所述第一和第二检测部分的输出端子上的开关;和

控制器,用于通过使用所述记录介质类型信号控制所述开关,以便由所述第一或第二检测部分检测跟踪误差信号。

5.根据权利要求1所述的设备,其中所述分光装置把第一光源发射的光分解成主光束和至少四个对称于主光束的副光束,并且所述信号处理器包括:

第一检测部分,用于采用三光束方法从关于比较接近主光束的两个副光束的第一检测信号中检测跟踪误差信号;和

第二检测部分,用于采用改进的推挽方法从关于相距主光束较远的两个副光束的第二检测信号以及关于主光束的主检测信号中检测跟踪误差信号。

6.根据权利要求5所述的设备,其中所述信号处理器还包括:

安装在所述光检测装置与所述第一和第二检测部分之间或安装在所述第一和第二检测部分的输出端子上的开关;和

控制器,用于控制所述开关,以便所述第一或第二检测部分检测跟踪误差信号。

7.根据权利要求4或6所述的设备,其中操作控制器以根据所述光记录/再现设备检测的记录介质类型信号,当所述记录介质仅仅是用于再现的预定记录介质时,使用三光束方法检测跟踪误差信号,当所述记录介质是至少可以记录一次的预定记录介质时,使用改进的推挽方法检测跟踪误差信号。

8.根据权利要求1至3和5的任一项所述的设备,其中所述光检测装置包括:

一个主光电检测器,用于检测主光束;

一对第一副光电检测器,用于接收比较接近主光束的两个副光束;和

一对第二副光电检测器,用于接收相距主光束较远的两个副光束。

9.根据权利要求8所述的设备,其中主光电检测器具有一个至少有两个部分的结构,以及第二光电检测器具有一个有两个和四个部分中的一种的结构。

10.根据权利要求8所述的设备,还包括光检测装置电路,该电路包括:电流-电压转换器,用于将从主光电检测器和第一及第二副光电检测器输出的电流信号转换成电压信号,并且输出该转换的电压;和开关,用于选择性地输出来自第一副光电检测器的检测信号和来自第二副光电检测器的检测信号。

11.根据权利要求10所述的设备,其中所述信号处理器通过根据所述光记录/再现设备的记录介质类型信号控制所述开关,选择性地采用改进的推挽方法或三光束方法检测跟踪误差信号。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/02105323.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top