[发明专利]光记录/再现设备和跟踪误差信号检测方法

说明书

                        技术领域

本发明涉及一种根据记录介质比如光盘的类型实现最佳跟踪伺服控制的光记录/再现设备，和检测跟踪误差信号的方法。

                        背景技术

一般来说，再现设备主要以三光束方法执行跟踪伺服控制，而记录设备则以推挽方法执行跟踪伺服控制，特别是以差分推挽(DPP)方法执行误差跟踪控制，该差分推挽方法是一种改进的推挽方法。

三光束方法和DPP方法都利用了通过光栅分解成第0和第±1阶(order)的光束。在使用三光束方法的再现设备中，根据再现期间光束的强度采用了这样一种光栅：在该光栅中，第0与第±1阶光束之间衍射的有效比值约为4∶1至5∶1，即，第0阶：第±1阶＝4∶1至5∶1。照射到光盘上的第+1阶光束与第-1阶光束之间的相位差被设置为180°。

如图1所示，再现设备使六部分光电检测器10，包括一个主光电检测器11；主光电检测器11具有一个四部分结构和设置在主光电检测器11的两侧的一对副光电检测器13和15。通过检测由光栅衍射的三个光束用三光束方法实现跟踪伺服控制。这里，按三光束方法检测的跟踪误差信号是副光电检测器13和15的检测信号之间的差分信号。

在使用DPP方法的记录设备中，采用这样一种光栅来增加用于记录的第0阶光束的效率：在该光栅中第0与第±1阶光束之间衍射的有效比值约为10∶1至15∶1。照射到光盘上的第+1阶光束与第-1阶光束之间的相位差被设置为360°。

如图2所示，记录设备使用八部分光电检测器20，包括一个主光电检测器21；该主光电检测器21具有一个四部分结构和设置在主光电检测器21两侧的一对两部分副光电检测器23和25。通过检测由光栅分解的三个光束实现跟踪伺服控制。这里，按DPP方法检测的跟踪误差信号是副光电检测器23和25的部分I1和J1的检测信号的总信号与副光电检测器23和25的部分I2和J2的检测信号的总信号之间的差值。

根据光盘中的凹坑的深度，按三光束方法和推挽方法检测的跟踪误差信号具有不同的幅值。如图3所示，当光盘的凹坑深度是λ/4时，按三光束方法检测的跟踪误差信号(TES_3-BEAM)的幅值变为最大。反之，当光盘的凹坑深度是λ/8时，按推挽方法检测的跟踪误差信号(TES_DPP)的幅值变为最大，而当光盘的凹坑深度是λ/4时，其幅值则变为最小。

因此，把光盘的凹坑深度标准化为中间值λ/5，以便在采用上述伺服控制方法的任何一个方法时可以实现跟踪伺服控制。

然而，目前销售的许多光盘被这样制造：形成比标准尺寸更深的凹坑深度，接近于λ/4。当从具有被制造成比标准尺寸更深的凹坑的光盘中再现数据时，由采用三光束方法的再现设备检测的跟踪误差信号的幅值很大，反之采用推挽方法的再现设备检测的跟踪误差信号的幅值则接近于0，使得跟踪伺服控制本身变得不可能。

                           发明内容

为了解决上述问题，本发明的目的是提供一种光记录/再现设备，和一种检测跟踪误差信号的方法，该设备和方法通过根据光盘类型改变跟踪伺服控制方法，可以在从非重写光盘中再现数据期间实现最佳跟踪伺服控制，并且无需考虑凹坑的深度。

为了实现上述目的，提供了一种光记录/再现设备，包括：一个光拾取器，该光拾取器包括一个把从第一光源发射的光分解成一个主光束和对称于主光束的至少两个副光束、并且使分解的光束照射到记录介质上的分光装置；和一个光检测装置，用于接收由记录介质反射的主光束和副光束，以便采用三光束方法和推挽方法及改进的推挽方法中的至少一种方法检测跟踪误差信号；以及一个信号处理器，用于接收由光检测装置输出的检测信号，并采用三光束方法和推挽方法及改进的推挽方法中的一种方法检测跟踪误差信号，或者采用三光束方法、推挽方法和改进的推挽方法之一种方法选择性地检测跟踪误差信号，以便实现最佳跟踪伺服控制。

本发明最好是，根据光记录/再现设备检测的记录介质类型信号，当记录介质仅仅是用于再现的预定记录介质时，通过使用三光束方法的跟踪误差信号实现跟踪伺服控制，当记录介质是一种至少可以在其上记录一次的预定记录介质时，使用推挽方法和改进的推挽方法中的一种方法的跟踪误差信号实现跟踪伺服控制。