[发明专利]射线检验设备和射线检验方法无效
申请号: | 02105676.5 | 申请日: | 2002-04-17 |
公开(公告)号: | CN1381717A | 公开(公告)日: | 2002-11-27 |
发明(设计)人: | 泽田良一 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N23/02 | 分类号: | G01N23/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临,王志森 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 检验 设备 方法 | ||
1.一种射线检验设备,包括:
射线生成器,用于生成射向被检对象的射线;
射线探测器,以面对所述射线生成器的方式设置,用于检测透过被检对象的射线,并输出构成被检对象的图像的每一个像素的像素数据;以及
数据处理单元,用于使用从所述射线探测器输出的像素数据,执行数据处理,
其中所述数据处理单元计算从所述射线探测器输出的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差,并通过总计从相应于每一个像素的差值处理获得的灰度等级数据在预定灰度等级范围内的像素的数量、获得被检对象的总周边长度,以及根据该对象的总周边长度确定在该对象中是否出现裂缝或裂口。
2.根据权利要求1所述的射线检验设备,还包括:
传送单元,用于在所述射线生成器和所述射线探测器之间传送被检对象。
3.根据权利要求1所述的射线检验设备,其中当该对象的总周边长度超出接受范围时,所述数据处理单元确定在该对象中出现裂缝或裂口。
4.一种射线检验方法,包括:
生成射向被检对象的射线;
检测透过被检对象的射线,以根据所检测到的射线获得构成被检对象的图像的每一个像素的像素数据;
计算所述每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差;
通过总计从相应于每一个像素的差值处理获得的灰度等级数据在预定灰度等级范围内的像素的数量,获得被检对象的总周边长度;以及
根据该对象的总周边长度确定在该对象中是否出现裂缝或裂口。
5.根据权利要求4所述的射线检验方法,其中当该对象的总周边长度超出接受范围时,确定在该对象中出现裂缝或裂口。
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