[发明专利]射线检验设备和射线检验方法无效

专利信息
申请号: 02105676.5 申请日: 2002-04-17
公开(公告)号: CN1381717A 公开(公告)日: 2002-11-27
发明(设计)人: 泽田良一 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N23/02 分类号: G01N23/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 黄小临,王志森
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 检验 设备 方法
【说明书】:

                           技术领域

发明涉及用于检验药品和食品的无损检验设备或方法。更具体地说,本发明涉及适于检验由于包装材料而使其内部无法用可见光查看的包装对象出现裂缝或裂口的射线检验设备和射线检验方法。

                           背景技术

到目前为止,对于检验包装食品出现裂缝或裂口的设备而言,使用可见光或红外光的检验设备是众所周知的。该种使用可见光或红外光的检验设备通常向包装的待检验对象发射可见光或红外光,然后通过使用CCD摄像机接收由该对象反射或发送的光。由此,检验设备获取关于包装内部的图像信息,并根据其形状确定容纳在包装内的对象是否出现比如裂缝或裂口的异常。

另外,最近几年,将多种不透光的铝箔和盒子用作包装食品和药品的方式。该使用光的检验设备对于检验包装对象所出现的裂缝或裂口无能为力。

而且,使用光的检验设备还存在如下缺陷,即使使用由透光材料构成的包装材料,检验结果也显著地受到包装材料表面颜色的影响。

通过使用采用诸如X射线的射线检验设备,足以查看用不透光材料制成的包装材料包裹的包装的内部状态。在传统的射线检验设备中,透过被检验对象的射线由一维或二维探测器检测。然后,使用像素信息通过执行图像处理,识别包含在包装中的对象的透视二维图像的图案。由此,传统的设备确定容纳在包装中的对象是否出现比如裂缝的异常。因此,传统的设备存在必须执行大规模的图像处理的问题,以便实现高速在线(inline)系统,并且设备的硬件和软件成本很高。

                           发明内容

鉴于上述现状完成了本发明。因此,本发明的目的是提供一种射线检验设备和射线检验方法,不需要传统设备所需的大规模图像处理,用于图像处理的硬件和软件相对简单,并能够以造价低廉的配置可靠地确定在不透光材料包装的对象中是否出现裂缝或裂口。

为了实现上述目的,提供一种根据本发明的射线检验设备,包括:射线生成器,用于生成射向被检对象的射线;射线探测器,以面对射线生成器的方式设置,用于检测透过被检对象的射线,并输出构成被检对象的图像的每一个像素的像素数据;以及数据处理单元,用于通过使用从射线探测器输出的像素数据,执行数据处理。在该设备中,数据处理单元计算从射线探测器输出的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差,并通过总计从相应于每一个像素的差值处理获得的灰度等级(gray level)数据在预定灰度等级范围内的像素的数量,获得被检对象的总周边长度(circumference length),以及根据该对象的总周边长度确定在该对象中是否出现裂缝或裂口。

本发明通过获取构成对象的图像的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差,获取其中相应于该对象的轮廓部分的像素灰度等级不同于剩余部分的像素灰度等级的图像。本发明通过总计其像素灰度等级在预定灰度等级范围内的像素的数量、然后根据相应于轮廓部分的像素灰度等级与剩余部分的像素灰度等级不同这一事实从该类像素的总数量确定在该对象中是否出现裂缝或裂口,而不是通过从相应于轮廓部分的图像信息中识别图案,来实现所期望的目的。

也就是说,计算构成被检对象的射线透视图像的每一个像素的像素数据和其周围的每一个像素的像素数据之间的差,从而相应于被检对象的轮廓部分的每一部分具有与相应于其它部分的灰度等级不同的像素灰度等级,并通常具有比相应于其它部分的灰度等级值更深(或更黑)的值。由此,预先设置可能包括相应于轮廓部分的像素的灰度等级在内的灰度等级范围。在差值计算之后,计算其灰度等级在预定灰度等级范围之内的像素总数量。由此,获得被检对象的总周边长度。在该对象中出现裂缝或裂口的情况下,该对象的总周边长度大于在该对象中没有裂缝或裂口的情况下的总周边长度。所以,能够更加简单可靠地确定其中是否出现裂缝或裂口。此外,与用于对射线透视图像执行图像处理的图案识别的软件相比,用于执行该数据处理的软件更加简单。因此,该数据处理能够使用相对低容量低速的硬件高速地执行。

                           附图说明

图1是用于说明根据本发明的实施例的射线检验设备的结构的图;

图2A是用于说明通过使用从一维X射线探测器3输出的像素数据获得的被检对象W的X射线透视图像的图;

图2B是用于说明在一维X射线探测器3位于预定位置情况下、从该一维探测器3输出的每一个像素(或通道)的灰度等级的图;

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