[发明专利]检测光盘坏损区的方法无效
| 申请号： | 02106000.2 | 申请日： | 2002-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN1380656A | 公开（公告）日： | 2002-11-20 |
| 发明（设计）人： | 崔永道;房极英;晋哲 | 申请（专利权）人： | 日立－LG数据存储韩国公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B7/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 张天舒,袁炳泽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 光盘 坏损区 方法 | ||
1.一种检测可写光盘坏损区的方法，包括以下步骤：
(a)检测记录操作中产生的伺服错误信号的电平；
(b)根据检测的电平检查伺服错误信号是否异常；
(c)检测记录操作中产生的周期性信号；以及
(d)根据检查结果和检测到的周期性信号确定记录区是否坏损。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述的周期性信号代表伺服错误信号异常状态发生的周期性。
3.根据权利要求1所述的方法，其中所述的步骤(c)检测调制进可写光盘的颤动光轨的信号，并检查检测到的信号是否正常。
4.根据权利要求3所述的方法，其中所述的步骤(c)根据调制进颤动光轨的信号是否被成功检测来判断被检测信号的正常性。
5.根据权利要求1所述的方法，其中所述的伺服错误信号是跟踪错误和聚焦错误信号之一。
6.根据权利要求1所述的方法，还包括根据坏损与否的确定结果降低当前记录速度的步骤。
7.一种检测可写光盘坏损区的方法，包括以下步骤：
(a)检测伺服错误信号和调制进颤动光轨的信号，这两种信号是在沿颤动光轨记录数据的过程中产生的；
(b)检查被测伺服错误信号的异常状态是否持续，以及被调制信号是否被成功检测；以及
(c)根据检查结果，确定记录区是否坏损。
8.根据权利要求7所述的方法，其中所述的伺服错误信号是跟踪错误信号。
9.一种检测可写光盘坏损区的方法，包括以下步骤：
(a)检测记录操作中产生的伺服错误信号的电平；
(b)根据检测到的电平，检查伺服错误信号是否异常；
(c)如果伺服错误信号处于异常状态，确定伺服错误信号的异常状态是瞬时的还是会对多个物理光轨产生影响；以及
(d)根据所述步骤(c)的确定结果来确定记录区是否坏损。
10.根据权利要求9所述的方法，其中如果所述异常状态周期性出现，则所述步骤(c)确定该异常状态会对多个物理光轨产生影响。
11.根据权利要求10所述的方法，其中如果所述异常状态以对应于可写光盘旋转一周的周期出现，则所述步骤(c)确定该异常状态会对多个物理光轨产生影响。
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