[发明专利]检测光盘坏损区的方法

说明书

发明领域

本发明涉及在可写光盘上记录数据时无错地检测光盘坏损区的方法。

背景技术

物理损伤，例如划痕等，会影响一些物理光轨(track)。特别是坏损区的中心区域会对数据记录造成最坏的影响。

如果在这样一个坏损区的中心区域进行高速数据写入，跟踪伺服控制可能会终止，从而记录操作会异常中断。在记录操作异常结束的情况下，无法从异常终止的记录位置重新开始数据记录，因此必须从头开始。然而，由于一次写型光盘(即CD-R)不能重写，因此光盘只好被丢弃。

为了解决这个问题，开发了不同的方法。这些方法的目的都是通过检测坏损区并在检测到的坏损区降低记录速度，从而即使在坏损区也能实现成功的数据记录。方法之一利用了跟踪错误(TE)信号的电平。

在这种利用TE信号电平的方法中，当数据以预定的记录速度记录在可写光盘上时，TE信号的电平是一直被监测的，若监测的电平比预设的极限电平高，则当前记录区被认为有缺陷。换句话说，若TE信号不稳定，则当前记录区被认为有缺陷，从而把当前记录速度降低到适当的速度。在速度降低后，继续进行记录操作。

但是，TE信号可能会由于外界的机械震动或干扰而瞬时不稳定，因此若只利用TE信号电平来确定坏损区，正常的记录区可能会被错认为有缺陷，这会导致不必要的写入速度降低。

发明内容

本发明的一个目的在于提供一种更准确地检测可写光盘坏损区的方法，以通过及时降低记录速度来保证在坏损区成功地进行数据写入。

根据本发明的准确检测光盘坏损区的方法检测在记录操作中产生的伺服错误信号的电平，根据检测到的电平检查伺服错误信号是否处于异常状态，检测周期性颤动信号或者记录操作中产生的伺服错误信号异常状态出现的周期性，若伺服错误信号处于异常状态，则根据检测出的周期性颤动信号的成功解码或异常情况出现的周期性，确定记录区是否坏损。

附图说明

结合附图可更深刻地理解本发明，附图说明本发明的优选实施例，并与说明书一起解释本发明的原理。附图中：

图1为一个光盘驱动器的方框图，其中内建了根据本发明的检测可写光盘坏损区的方法；

图2为本发明的坏损区检测方法的一个实施例的流程图；

图3显示的是调制进颤动光轨的颤动信号和编码为颤动信号的数据的示例；

图4显示的是跟踪错误信号的一个示例性异常状态；

图5是伺服回路的增益特性；

图6是本发明的坏损区检测方法另一个实施例的流程图；以及

图7显示的是跟踪和聚焦错误信号的另一个示例性异常状态。

优选实施例说明

为了充分了解本发明，以下参考附图对本发明的优选实施例进行说明。

图1为一个光盘驱动器的方框图，其中内建了根据本发明的检测可写光盘坏损区的方法

图1中的光盘驱动器包括一个数字记录信号处理器30a，其将输入数据转换成记录格式数据作为添加的附加数据，比如纠错码(ECC)；信道比特解码器40，将记录格式数据转换为PWM(Pulse WidthModulation，脉宽调制)信号；写入驱动器41，根据PWM信号生成写入电流；光学拾取器20，将对应于写入电流的信号写到可写光盘10上，并从可写光盘10上再生写入的信号；R/F单元50，通过组合来自光盘10的再生信号生成伺服错误信号TE和FE(Focusing Error，聚焦错误)及二进制数据信号，并由螺旋光轨的纵向形状生成颤动信号；A/D转换器51，将来自R/F单元50的TE信号(和/或FE信号)数字化；数字再生信号处理器30b，利用与二进制信号同步的内部时钟，由二进制数据信号恢复原始数据；ATIP(Absolute Time In Pre-Groove，预刻槽绝对时间)解码器60，对生成的颤动信号进行解码以提取ATIP数据，并输出其状态信号；驱动单元71，驱动主轴电机11和进给电机(sled motor)21；伺服单元70，根据伺服错误信号控制驱动单元71和拾取器20的传动机构；FG计数器72，对与主轴电机11的转速成比例输出的FG脉冲进行计数；以及微计算机80，确定当前记录位置是否在坏损区，并根据确定的结果调节记录速度。

图2为本发明的坏损区检测方法的实施例的流程图。以下详细说明由图1的光盘驱动器进行的图2的过程。