[发明专利]半导体陶瓷组合物和使用该组合物的半导体陶瓷元件有效
申请号: | 02106671.X | 申请日: | 1998-10-08 |
公开(公告)号: | CN1397958A | 公开(公告)日: | 2003-02-19 |
发明(设计)人: | 中山晃庆;石川辉伸;新见秀明;浦原良一;坂部行雄 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H01C7/04 | 分类号: | H01C7/04;H01B3/12;C04B35/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 白益华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 陶瓷 组合 使用 元件 | ||
本申请是申请日为1998年10月8日、发明名称为“半导体陶瓷组合物和使用该组合物的半导体陶瓷元件”的发明专利申请CN98120933.5的分案申请。
技术领域
本发明涉及半导体陶瓷组合物,特别是具有负电阻-温度特性的半导体陶瓷组合物。本发明还涉及使用该半导体陶瓷组合物(负温度系数″NTC″热敏电阻)的半导体陶瓷元件。该元件用于例如防止电流骤增和实现电动机的软启动。
背景技术
“热敏电阻”一词来源于“热敏感性电阻”,是指电阻随温度变化的元件。负温度系数热敏电阻(NTC热敏电阻)是一种半导体陶瓷元件,其特征是电阻随温度升高而下降。常数B用下式定义,其中ρ(T)是温度为T时的电阻率,ρ(To)是温度为To时的电阻率,ln是自然对数。
常数B=[lnρ(To)-lnρ(T)]/(1/To-1/T)常数B越大,NTC热敏电阻的每单位温度变化的电阻变化也越大。
NTC热敏电阻包括例如在用于电子器件的电源整流电路中。该电源的整流电路具有大电容的滤波电容器。NTC热敏电阻抑制电源刚接通时强的骤增电流流入电容器中。此后,热敏电阻通过自加热作用而使电阻值变低,因此电路处在稳定的状态下工作。NTC热敏电阻能用来得到电路的软启动,并且用来保护大电容的整流器和电容器。
已经用含过渡金属元素的尖晶石复合氧化物作为NTC热敏电阻的材料。
对于用来防止骤增电流的理想NTC热敏电阻的一个要求是在高温(140-200℃)下热敏电阻的电阻值足够低。随着热敏电阻的阻值下降,在电路于稳定状态下工作时节省了电能。
为了降低热敏电阻在高温下的电阻值,高温下的常数B要增加。常规的NTC热敏电阻的常数B最多为3250K。
另一个要求是热敏电阻在低温下(在-10℃至+60℃的范围内)的电阻值不必非常高。可发现常规NTC热敏电阻的电阻值增加相当大,尤其是在低于0℃的低温下。结果,低温下发生的电压降有时会妨碍电子器件的正常启动。为了防止低温下电阻的增加,要降低低温下的常数B。
据报道,氧化钻镧(lanthanum cobalt oxide)的常数B与温度有关(例如见V.G.Bhide和D.S.Rajoria的Phys.Rev.B6,[3],1072,1972,等)。
本发明人早就得到了一种NTC热敏电阻,它能满足上述两个要求,即在室温附近常数B为3000K或更小,在高温下常数B为4000K或更大,这可以通过向由氧化钴镧形成的主要组分中混入选自Si、Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te和Ce的至少一种元素来完成(日本专利申请公开号7-176406)。所得的NTC热敏电阻的电阻率和常数B与添加剂的用量成正比。这是因为添加剂在氧化钴镧中用作施主以补偿氧化物中所含杂质(受主,如Ni、Ca等)的电荷。因此,如果添加剂过量混入,那么电阻率和常数B在室温下会变低。
氧化钴镧的电阻率和常数B在室温(25℃-140℃)下的峰值约为20Ω·cm和约4700K。通常得不到电阻率等于或大于上述值的NTC热敏电阻。
随着NTC热敏电阻的应用,需要电阻率等于或大于上述值的电阻。虽然可以通过增加NTC热敏电阻的容量来得到较高的电阻率,但是增加容量与减小元件的要求是相悖的。根据热敏电阻的类型对其容量进行改进会导致生产成本的增加。
同时,氧化钴镧的烧结能力非常差,它的烧结密度有时不能达到90%或更高的理论密度。迄今为止,常规的烧结助剂(如SiO2)对其不起作用,因为施主和受主(以非常少量存在)之间的平衡影响了电阻-温度特性。
发明内容
因此,本发明的一个目的是提供一种半导体陶瓷组合物,它在室温范围内的电阻率高于常规组合物在该范围内的电阻率。
本发明的另一个目的是增强所述组合物的烧结能力。
根据本发明,提供了一种具有负电阻-温度特性的半导体陶瓷组合物,其中该组合物包括氧化钻镧作为主组分,以及选自Fe和Al元素的至少一种氧化物和选自Si、Zr、Hf、Ta、Sn、Sb、W、Mo、Te、Ce、Nb、Mn、Th和P元素的至少一种氧化物作为副组分。
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