[发明专利]图形对照设备,图形对照方法以及图像对照程序无效

专利信息
申请号: 02108157.3 申请日: 2002-03-28
公开(公告)号: CN1378177A 公开(公告)日: 2002-11-06
发明(设计)人: 门田启 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 朱进桂
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图形 对照 设备 方法 以及 图像 程序
【权利要求书】:

1.一种用于利用样本图形对照检验目标图形的图形对照设备,包括:

特征点对形成装置,用于形成特征点对,每一特征点对由所述检验目标图形中的特征点和彼此相对应的所述样本图形中的特征点构成,从表示所述检验目标图形的特征的点中选择由每个所述特征点对组成的所述检验目标图形中的所述特征点,从表示所述样本图形的特征的点中选择由每个所述特征点对组成的所述样本图形中的所述特征点;

可能性计算装置,用于计算任意图形与所述样本图形之间的特征点对的数量不小于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述特征点对的数量的可能性;

相似性计算装置,用于根据所述可能性计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的相似性。

2.根据权利要求1所述的图形对照设备,其特征在于进一步包括:

特征量计算装置,用于计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的特征量;和

一致性计算装置,用于根据所述检验目标图形与所述样本图形之间的特征点对的所述数量以及所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述特征量计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的特征点对的一致性,

其中所述可能性计算装置计算所述任意图形与所述样本图形之间的一致性不小于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述一致性的可能性,而不计算所述任意图形与所述样本图形之间的特征点对的所述数量不小于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述特征点对的所述数量的所述可能性。

3.根据权利要求2所述的图形对照设备,其特征在于进一步包括:

第二特征量计算装置,用于计算所述样本图形和与所述样本图形相同的图形之间的特征量;和

一致性计算装置,用于根据所述样本图形和与所述样本图形相同的所述图形之间的特征点对的所述数量以及所述样本目标图形和与所述样本图形相同的所述图形之间的所述特征量来计算所述样本图形和与所述样本图形相同的所述图形之间的特征点对的一致性,

其中所述相似性计算装置用于根据所述任意图形与所述样本图形之间的一致性不少于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述一致性的所述可能性,以及所述样本图形和与所述样本图形相同的所述图形之间的所述一致性少于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述一致性的可能性来计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述相似性。

4.根据权利要求1所述的图形对照设备,其特征在于进一步包括:

特征量计算装置,用于计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的特征点对的特征量的差;

用于将所述检验目标图形与所述样本图形之间的特征点对的所述数量减少到所述数量差少于预定值的特征点对的数量的装置;

用于通过去除所述数量差不小于所述预定值的特征点对来减少所述任意图形与所述样本图形之间的特征点对的所述数量的装置,和

其中所述可能性计算装置计算任意图形与所述样本图形之间的特征点对的所述减少数量不少于所述检验目标图形与所述样本图形之间的特征点对的所述减少数量的可能性,而不计算所述任意图形与所述样本图形之间的特征点对的所述数量不少于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述特征点对的所述数量的所述可能性。

5.根据权利要求4所述的图形对照设备,其特征在于所述数量差是构成所述特征点对的特征点之间的距离。

6.根据权利要求1至5中的任何一项所述的图形对照设备,其特征在于:

至少用指纹和掌纹中的一种作为所述检验目标图形和所述样本图形。

7.一种用于利用样本图形对照检验目标图形的图形对照步骤,包括:

特征点对形成步骤,用于形成特征点对,每一特征点对由所述检验目标图形中的特征点和彼此相对应的所述样本图形中的特征点构成,从表示所述检验目标图形的特征的点中选择由每个所述特征点对组成的所述检验目标图形中的所述特征点,从表示所述样本图形的特征的点中选择由每个所述特征点对组成的所述样本图形中的所述特征点;

可能性计算步骤,用于计算任意图形与所述样本图形之间的特征点对的数量不小于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述特征点对的数量的可能性;

相似性计算步骤,用于根据所述可能性计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的相似性。

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