[发明专利]图形对照设备,图形对照方法以及图像对照程序

说明书

技术领域

本发明涉及图像数据的对照。特别是，本发明涉及一种用于识别诸如指纹，掌纹以及字符之类的线条图形的图形对照设备，图形对照方法以及图形对照程序。

背景技术

作为传统的用于识别诸如指纹，掌纹或字符之类的线条图形的图形对照设备，日本专利申请特许公开(下文中称为JP-A)No.56-024675，59-000778，59-024384，60-029875，03-266187，04-033065，以及04-043470中描述了利用诸如线条的端点或者分支点之类的特征点获得相应的特征点并对它们进行对照的方法。

但是，上面提到的传统技术存在着下述缺点。

JP-A No.56-024675，59-000778，59-024384，60-029875，04-033065，以及04-043470中描述的方法是一种检测相应的特征点并基于相应特征点的数量进行识别的方法。由于这一原因，在特征点密集的地方形成特征点对是很容易的，而存在的一个问题就是如果在目标和/或模式中的特征点具有不同的密度，精确对照其结果是不可能的。

根据JP-A No.03-266187中描述的方法，那些以大量特征点与一个特定特征点相邻的那些特征点对于处理特征点的密度较高的的情况是无效的。但是，根据这种方法，如果仅存在特征点的密度较高的位置，则存在着不能对其进行识别的问题。

发明内容

本发明的一个目的就是提供一种图形对照设备，图像对照方法以及图形对照程序，能够解决上述传统技术的缺陷并且能够不依赖于输入图像的特征点的密度而准确地识别输入的图形。

根据本发明，提供了一种用于利用样本图形对照检验目标图形的图形对照设备，包括：特征点对形成装置，用于形成特征点对，每一特征点对由检验目标图形中的特征点和彼此相对应的样本图形中的特征点构成，从表示检验目标图形的特征的点中选择由每个特征点对组成的检验目标图形中的特征点，从表示样本图形的特征的点中选择由每个特征点对组成的样本图形中的特征点；可能性计算装置，用于计算任意图形与样本图形之间的特征点对的数量不小于检验目标图形与样本图形之间的特征点对的数量的可能性；相似性计算装置，用于根据可能性计算检验目标图形与样本图形之间的相似性。

图形对照设备可以进一步包括：特征量计算装置，用于计算检验目标图形与样本图形之间的特征量；以及一致性计算装置，用于根据检验目标图形与样本图形之间的特征点对的数量以及检验目标图形与样本图形之间的特征量计算检验目标图形与样本图形之间的特征点对的一致性，其中可能性计算装置计算任意图形与样本图形之间的一致性不小于检验目标图形与样本图形之间的一致性的可能性，而不计算任意图形与样本图形之间的特征点对的数量不小于检验目标图形与样本图形之间的特征点对的数量的可能性。

图形对照设备可以进一步包括：第二特征量计算装置，用于计算样本图形和与样本图形相同的图形之间的特征量；以及一致性计算装置，用于根据样本图形和与样本图形相同的图形之间的特征点对的数量以及样本目标图形和与样本图形相同的图形之间的特征量来计算模式图形和与样本图形相同的图形之间的特征点对的一致性，其中相似性计算装置用于根据任意图形与样本图形之间的一致性不少于检验目标图形与样本图形之间的一致性的可能性以及样本图形和与样本图形相同的图形之间的一致性少于检验目标图形与样本图形之间的一致性的可能性来计算检验目标图形与样本图形之间的相似性。

图形对照设备可以进一步包括：特征量计算装置，用于计算检验目标图形与样本图形之间的特征点对的特征量的差；用于将检验目标图形与样本图形之间的特征点对的数量减少到数量差少于预定值的特征点对的数量的装置；用于通过去除数量差不小于预定值的特征点对来减少任意图形与样本图形之间的特征点对的数量的装置，其中可能性计算装置计算任意图形与样本图形之间的特征点对的减少数量不少于检验目标图形与样本图形之间的特征点对的减少数量的可能性，而不计算任意图形与样本图形之间的特征点对的数量不少于检验目标图形与样本图形之间的特征点对的数量的可能性。

在图形对照装置中，数量差可以是构成特征点对的特征点之间的距离。

在图形对照装置中，至少可用指纹和掌纹中的一种作为检验目标图形和样本图形。