[发明专利]半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的设计方法

权利要求书

1、一种半导体集成电路装置，包含在故障诊断中适用于非扫描测试方法的块(以下称非扫描块)和在故障诊断中适用于扫描测试方法的块(以下称扫描块)，其特征在于：

包括具有输入信号及输出信号的上述非扫描块和输入上述非扫描块的输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器，

控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述非扫描块的输入信号，在不进行扫描测试时选择上述非扫描块的输出信号。

2、权利要求1记载的半导体集成电路装置，其特征在于：上述非扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。

3、权利要求1记载的半导体集成电路装置，其特征在于：包括具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块、扫描触发器、输入上述非扫描块的输入信号和第1输出信号并选择某一方作为第1外部输出信号输出的第1选择器和输入上述扫描触发器的输出信号及上述非扫描块的第2输出信号并选择某一方作为第2外部输出信号输出的第2选择器，

控制上述第1选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输出信号，

控制上述第2选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择从上述扫描触发器来的输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第2输出信号。

4、权利要求3记载的半导体集成电路装置，其特征在于：上述非扫描块的第1输入信号、第1输出信号和上述第1外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输出信号、上述扫描触发器的输出信号和上述非扫描块的第2外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。

5、权利要求1记载的半导体集成电路装置，其特征在于：包括具有第1输入信号、第2输入信号及输出信号的上述非扫描块、输入上述非扫描块的第2输入信号的扫描触发器、输入上述非扫描块的第1输入信号和输出信号并选择某一方作为外部输出信号输出的选择器。

控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的第1输入信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述非扫描块的输出信号。

控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输入信号的值。

6、权利要求5记载的半导体集成电路装置，其特征在于：上述非扫描块的第1输入信号、上述非扫描块的输出信号和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述非扫描块的第2输入信号是1个或多个信号。

7、一种半导体集成电路装置，包含非扫描块和扫描块，其特征在于：包括具有输入信号及输出信号的上述扫描块和输入上述外部输入信号和上述扫描块的输出信号并选择某一方向上述扫描块输入的选择器，

控制上述选择器，使其在进行扫描测试时选择上述扫描块的输出信号，在不进行上述扫描测试时选择上述外部输入信号。

8、权利要求7记载的半导体集成电路装置，其特征在于：上述扫描块的输入信号、输出信号和上述外部输入信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同。

9、权利要求7记载的半导体集成电路装置，其特征在于：包括具有输入信号及第1和第2输出信号的上述非扫描块、输入上述扫描块的第2输出信号的扫描触发器、输入上述外部输入信号和上述扫描块的第1输出信号并选择某一方输入到上述扫描块的选择器，

控制上述选择器，使其在进行上述扫描测试时，选择上述扫描块的第1输出信号，在不进行上述扫描测试时，选择上述外部输入信号，

控制上述扫描触发器，使其在进行上述扫描测试时，观测上述非扫描块的第2输出信号的值。

10、权利要求9记载的半导体集成电路装置，其特征在于：上述扫描块的输入信号、第1输出信号、和上述外部输出信号分别是1个或多个信号，且上述3种信号的个数相同，上述扫描块的第2输出信号是1个或多个信号。