[发明专利]半导体集成电路装置和半导体集成电路装置的设计方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体集成电路装置(以下记作LSI)，特别涉及内藏在故障诊断中使用非扫描测试方法的块(以下记作非扫描块)和使用扫描测试方法的块的LSI。

背景技术

在包含非扫描块和扫描块的LSI中，为了提高扫描测试的故障检测率，在扫描块的输入输出引脚上插入扫描触发器(以下记作扫描FF)。图7是表示一例扫描块的方框图。扫描块60由与电路61、扫描FF62、NOT电路65构成。63是输入信号，64是输出信号，66是扫描移入信号，67是扫描移出信号。

图8是包含非扫描块和扫描块且在故障诊断中使用扫描测试方法的LSI模块的模式图。图8A示出最简单构成的LSI模块80，图8B示出先有技术实际使用的构成的LSI模块90。81、93是非扫描块，82、84是扫描FF，87是选择器。85、91是输入信号，86、92、95是输出信号，88是扫描移入信号，89是扫描移出信号。

当在故障诊断中进行扫描测试时，扫描FF的Q和D与移位寄存器连接。而且，通过移位动作来任意设定扫描FF的值，通过俘获动作取入扫描FF的D输入信号，通过移位动作使扫描FF的值向LSI模块外部输出。

非扫描块81、93是没有考虑扫描测试而设计的块。因此，在扫描侧视时，因输入信号91、94不是扫描FF的输入等，故不能使94的值向LSI模块的外部输出。此外，在扫描测试时，因输出信号92、95不是扫描FF的输出等，故不能设定输出信号92、95的值。

下面，说明图7所示的与电路61时的扫描测试故障的检测。

首先，说明检测与电路61的I1输入端子的0简并故障(缩退故障)、I2输入端子的0简并故障和O1输出端子的0简并故障时的情况。这时，有必要从I1输入端子和I2输入端子输入“1”，再观测O1输出端子的值。为了向I1输入端子输入“1”，只要向扫描FF62移入“1”即可。此外，为了观测O1输出端子的值，使扫描FF62进行俘获动作再将O1输出端子的值保持在扫描FF62中，并执行移出动作即可。但是，能否将“1”输入到I2输入端子取决于输入信号63的供给源。因此，需要考察包含与电路61的输入级的LSI模块的以往的构成。

在图8A的LSI模块的情况下，因作为输入信号63由非扫描块81的输出信号92供给，故不能有意向图7的I2输入端子输入“1”。因此，不能检测与电路61的I1输入端子的0简并故障、I2输入端子的0简并故障和O1输出端子的0简并故障。

因此，在先有技术中，有必要采用象图8B的LSI模块90那样的构成。在LSI模块90中，在输入信号63的供给侧设置选择器87和扫描FF82，扫描测试时，可以使用扫描FF82输入信号63设定为任意值。通过这样设置选择器87和扫描FF82，可以有意向与电路61的I2输入端子输入“1”。由此，可以检测与电路61的I1输入端子的0简并故障、I2输入端子的0简并故障和O1输出端子的0简并故障。

同样，当检测与电路61的I1输入端子的1简并故障或I2输入端子的1简并故障时，也有必要向I2输入端子有意输入规定的值。因此，有必要采用象图8B的LSI模块90那样的构成。

其次，说明检测与电路61的O1输出信号的1简并故障时的情况。这时，有必要向与电路61的I1输入端子或I2输入端子输入“0”，再观测O1输出端子的值。为了向I1输入端子输入“0”，只要向扫描FF62移入“0”即可。此外，为了观测O1输出端子的值，使扫描FF62进行俘获动作再将O1输出端子的值保持在扫描FF62中，并执行移出动作即可。这样，通过控制扫描FF62，可以检测与电路61的O1输出信号的1简并故障。因此，能否检测与电路61的O1输出信号的1简并故障不取决于扫描块60的输入信号63的供给源是不是非扫描块的输出信号。即，无论是图8A的LSI模块80，还是图8B的LSI模块90，都能检测与电路61的O1输出信号的1简并故障。

其次，说明利用扫描测试检测NOT电路65的故障。

首先，说明检测NOT电路65的I3输入端子和O2输出端子的0简并故障的情况。这时，有必要向I3输入端子输入“1”，再观测O2输出端子的值。为了向I3输入端子输入“1”，只要向扫描FF62移入“1”即可。但是，能否观测O2输出端子的值取决于输出信号64的供给目的地。因此，需要考察包含与电路61的输出级的LSI模块的以往的构成。