[实用新型]易拆换式多重挤胶道封装模具无效
申请号: | 02202769.6 | 申请日: | 2002-02-01 |
公开(公告)号: | CN2526973Y | 公开(公告)日: | 2002-12-18 |
发明(设计)人: | 苏树旺 | 申请(专利权)人: | 苏树旺 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56 |
代理公司: | 长春市吉利专利事务所 | 代理人: | 王大珠 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 易拆换式 多重 挤胶道 封装 模具 | ||
技术领域
本实用新型涉及机械类,特别涉及一种易拆换式多重挤胶道封装模具,该封装横具设有多组可单独拆换的挤料机构,胶注道及上、下模组块,达到各处换修容易,生产方面有注胶质量稳定,注胶效率高,还可管制胶头料的掉送时机。
背景技术
目前,在半导体方面的生产力,备受国际肯定,生产效率一直名列世界前矛,此等荣耀固然可喜,然而我们都必须了解,电子业的产品竞争非常激烈,加上国际市场垂向及水平分工的取代度越来越高,为保持竞争实力,而如何使生产半导体的各种机具性能要不断的提高,这是一个重要的课题,在生产的机具中,将半导体外型封装的半导体封装模具,对半导体的生产也有一定的影响,常见半导体封装模具结构,如附图1至附图3所示,在上、下模具1、2内均设有模穴21及中心柱道、支道12、22,而于中心柱道处分设有复数对向交错的上、下顶出销13、23,又于下模具2适当处设有定位销24,能供携料上、下板31、32的定位孔33套置配合定位,携料上、下板31、32在下模具2内定位,并于上、下模具1、2合模时,藉由封装机台挤筒内所装设的中心挤杆将胶头料挤压进胶,从而让各模穴21封装成型,复开取出上、下板31、32,再开启携料架上、下板31、32,即可得到含有胶道料41及封装半导体42的成型片4,虽然该模具结构能轻易制出封装半导体的成型片,然而,美中不足的是相关挤压设备及成形模具处,尚存在若干缺欠值得改良;缺欠一是该上、下模具1、2合模后,藉由封装机台的单一中心挤杆挤压胶头料,使该胶头料自上、下模具中心柱道起,由近而远逐一流经各支道12、22,复次再由各支道逐一流入各模穴21内,予以冷却成型,而后开模顶出一片含有胶道料41及封装半导体42的成型片4,因为该支道分布多且行程长,故挤胶速度缓慢,存有快慢不均的差距,导致作业时间的施延,降低生产率;缺欠二是由于上、下模具1、2采用单一中心柱道及分支道结构行进胶作业,而其相关挤压设备仅提供单一中心挤杆作为挤胶,故该中心挤杆承受极大荷重,容易磨损或折断,使用寿命不长,且维修换装整根中心挤杆极为费工费时,不符合经济效益;其缺欠三是上、下模具1、2整体体积庞大,要拆离机台换修、清理,费工费时、拆卸搬运困难,造成维修不便。
实用新型内容
本实用新型的目的就是针对上述半导体封装模具结构存在的缺欠,提供一种易拆换式多重挤胶道封装模具,其结构是在上模座顶端设有一具有压板平稳升降的机构,在压板板缘适当位置,可附设多道抽取式挤料结构,该些抽取式挤料结构,设有数根等长等距排列,受压板下压贯通胶注道的挤胶杆,藉由多挤胶杆,及分开数个胶注道灌注到模穴的组成结构,能使挤料均衡快速充填成型,达到缩短加工成型时间,并减少胶道胶料用量;在每个挤胶杆连接挤压柱处,具有凹凸卡接结构,与挤胶杆本体相卡接,于挤压柱磨损、折断时,均可单独旋卸拆离挤胶杆本体,达到换修便利的效果;在多个胶注道模组、上模组块、胶注分流模组及下模组块,分别螺固于上模座或下模座适当位置,组成上、下模整体,使上、下模各处灌模部位,可各自拆换修护,不须拆换全部上模或下模,维修容易、搬移轻便;在对应其多重胶注道设置,设计一只胶头导板,以承载胶头料到每个胶注道上端,该胶头导板底缘,并设置有滑动闸体,以管制胶头料的掉送时机,由此解决多重挤胶道结构的胶头料进料问题,使其实施能更落实。
附图说明
图1为常见封装模具的分解示意图。
图2为常见封装模具的组合示意图。
图3为常见的半导体成型片立体示意图。
图4为本实用新型的立体分解示意图。
图5为本实用新型的胶注单元示意图。
图6为本实用新型的上模座顶端分解示意图。
图7为本实用新型的胶头导板整体立体示意图。
图8为本实用新型的胶头导板底面立体示意图。
图9为本实用新型的挤胶杆整体剖视示意图。
图10为本实用新型的挤胶杆的挤胶头拆装示意图一。
图11为本实用新型的挤胶杆的挤胶头拆装示意图二。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造