[其他]超微试样超薄片的制备在审
| 申请号： | 101985000005786 | 申请日： | 1985-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN85105786B | 公开（公告）日： | 1987-03-18 |
| 发明（设计）人： | 方克明 | 申请（专利权）人： | 北京钢铁学院 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 北京华谊知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨玲莉 |
| 地址： | 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 试样 薄片 制备 | ||
【权利要求书】：
1、一种超微试样超薄片的制备方法，镶样，其特征在于：
a.单层放置试样（4）的金属平台（2）作为阴极，另一金属作为阳极进行电镀;
b.电镀层将试样全部覆盖后取出阴极进行磨抛，然后对此平面镀上一层金属膜，再磨抛没有镀层的另一面;
c.将镶有试样薄片的金属导体作为阳极进行电解。
2、如权利要求1所述的方法，其特征在于：
a.阴极电流密度范围是3-10mA/cm2;
b.镀液温度保持在10℃-18℃;
c.镀液成分为四甲基氯化铵1-5%、三乙醇胺5-10%、丙三醇5-10%、余量为甲醇。
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