[其他]锗酸铋(BGO)单晶的表面抛光剂在审

专利信息
申请号: 101986000000517 申请日: 1986-03-05
公开(公告)号: CN86100517B 公开(公告)日: 1988-03-02
发明(设计)人: 徐润元 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国科学院上海专利事务所 代理人: 聂淑仪;潘振**
地址: 上海市长宁*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 锗酸铋 bgo 表面 抛光
【说明书】:

采用α-Al23[精磨用粒度范围是:5<d<25(微米);抛光用粒度范围是:1<d<5(微米)]。为抛光磨料,0.5~20%(体积)丙三醇作为润滑剂,合成树脂抛光布作为抛光膜,以及水为载液,并按0.5~2公斤磨料(经预处理的)加1~30升水,配成的抛光剂,用于BGO大单晶体的抛光,达到了优质(粗糙度分别达到Ra≤0.45,Ra≤0.03微米)、高效、低耗和无毒的效果。

发明所涉及的是BGO大单晶的表面抛光剂,

加工数量多,面积大,表面粗糙度要求高(光面达到0.03微米,粗糙面达到0.45微米)的BGO单晶,仅用一般抛光剂难以实现。需要有适合于BGO抛光用的抛光剂,与之匹配的抛光膜,以及一套抛光工艺技术。

现有的抛光技术,是采用真丝绸作抛光膜,金刚石研磨膏抛光剂,研磨膏中的硬脂酸作为润滑剂。这种形式的抛光近于干抛。表面有波浪形或马尾丝状缺陷,且费用昂贵,成本高。(每根晶体以四个大面计算,要耗费1.5支研磨膏,3~4尺绸布,耗工5天。)

法国某实验室的抛光剂,是金刚钻粉悬浮液,约2.5根晶体耗悬浮液1瓶。晶面粗糙度不好,有较密的粗划痕。粗糙度部分达到0.03微米,局部区域达不到要求。在使用这种抛光剂时,还必须使用一种有中等毒性的化学试剂四氯乙烷作润滑剂,无法防护,有害于工作人员的健康。且由于掺入油性物质,致使样品和模具的清洗困难,要耗费昂贵的三氯乙烷,(AD/A-003664〔AFCRL-TR-74-0412〕)。

本发明的目的,在于提供一种适合于BGO大单晶抛光用的高效、低耗、优质、无毒的抛光剂。它包括:磨料的选择和预处理,抛光液的配制以及抛光剂与抛光膜的匹配。适合于获得BGO大单晶所要求的粗糙度。

本发明的内容如下:

1.使用下述组成的抛光剂

(1)精磨用磨料α-Al2O3,粒度范围是5<d<25(微米)

抛光用磨料α-Al2O3,粒度范围是1<d<5(微米);

(2)载液为水;

(3)润滑剂为丙三醇。

2.抛光剂的配比是:0.5~2公斤α-Al2O3磨料(预处理),配以1~30升水,加0.5~20%(体积)润滑剂。

3.抛光膜是采用通常用于半导体硅单晶抛光用的合成树脂“抛光布”作抛光膜。

4.α-Al2O3磨料的预处理。在配制抛光液以前,需对磨料按下法进行预处理:一份磨料加四份水,搅拌,使沉淀稳定一段时间,倒入另一容器中,弃去沉底的部分,使达到粒度要求。

经预处理后的磨料,即可用于抛光液的配制。

本发明的效果如下:

优质。大面积大数量的BGO单晶所要求的精磨面与抛光面的粗糙度,分别达到了Ra≤0.45和Ra≤0.03(微米)。

高效。节省工时。因无油性物质掺入,仅用普通水清洗样品和模具,手续简单。工效为原工艺的3倍。

低耗。采用价格低廉的通用磨料;在通用的抛光研磨机上即可使用,无需增加特殊设备。不使用昂贵的三氯乙烷和金刚石、绸布等,降低了成本。加工成本为老工艺的1/8。与法国相比,成本约为其1/15~1/20。

无毒。使用无毒水为载液,不使用有毒的四氯乙烷,无须防护,节省防护费用,于工作人员健康无害。

实施例1。

预处理条件:0.5公斤磨料加2升水,搅拌,沉淀1~5分钟。弃去沉淀底部分。

表1 抛光剂的配制条件及其效果

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