[发明专利]集成电路自测试结构无效

申请号：	200580040539.9	申请日：	2005-11-23
公开（公告）号：	CN101065680A	公开（公告）日：	2007-10-31
发明（设计）人：	马塞尔·佩尔戈姆;亨德里克斯·J·M·维恩德里克	申请（专利权）人：	皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号：	G01R31/3185	分类号：	G01R31/3185;G01R31/3167
代理公司：	中科专利商标代理有限责任公司	代理人：	朱进桂
地址：	荷兰艾***	国省代码：	荷兰;NL
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摘要：
搜索关键词：	集成电路测试结构
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【权利要求书】：

1.一种集成电路，包括：

-一组监测器(M1、M2、M3)，可操作用于依赖于所述集成电路(1)的已测量参数来产生监测数据，每一监测器包括输出移位寄存器(SR1、SR2、SR3)，并且可操作用于通过所述输出移位寄存器(SR1、SR2、SR3)输出监测数据；以及

-连接的自测试控制器(28)，用于从所述监测器(M1、M2、M3)接收监测数据，并且可操作用于从所述集成电路输出自测试数据，其特征在于：所述监测器(M1、M2、M3)的输出移位寄存器和控制器(28)以串联的方式连接在一起以形成环(32)，其中除了环中最后一个监测器(M3)的输出移位寄存器(SR3)以外，每个输出移位寄存器(SR1、SR2)与环中的下一个监测器的输出移位寄存器相连，所述控制器(28)以串联方式连接在环中第一个监测器(M1)的输出移位寄存器(SR1)和最后一个监测器(M3)的输出移位寄存器(SR3)之间以形成环。

2.根据权利要求1所述的集成电路，其中，至少一个监测器包括连续逼近模数转换器，所述连续逼近模数转换器可操作用于将表示集成电路的已测量参数的测量从模拟信号转换到数字信号，用于经由所述输出移位寄存器(SR1、SR2、SR3)传送到所述自测试控制器。

3.一种对集成电路上的信号完整性自测试进行操作的方法，所述方法包括：

-使用第一监测器监测所述集成电路的参数，并且据此产生监测输出数据：

-将所述监测输出数据提供给自测试控制器；

-依赖于所述监测输出数据而提供自测试输出数据，其特征在于提供所述监测输出数据包括：

-向与第一监测器相关联的第一移位寄存器加载所述监测输出数据；

-对这个监测输出数据进行定时以通过所述第一移位寄存器；

-从所述第一移位寄存器输出所述监测输出数据；

-将所述监测输出数据从所述第一移位寄存器传送到多个串联的其它移位寄存器中的第一其它移位寄存器，用于在串联的连续移位寄存器之间传送数据；

-对所述监测输出数据进行定时以通过多个其它移位寄存器；以及

-从串联的最后一个移位寄存器中输出所述监测输出数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，使用模数连续逼近转换技术来产生所述监测输出数据。