[发明专利]用于测试RFID器件的方法和系统有效

专利信息
申请号: 200580046973.8 申请日: 2005-12-22
公开(公告)号: CN101103361A 公开(公告)日: 2008-01-09
发明(设计)人: D·J·普利斯顿;B·J·金斯顿;I·J·福斯特 申请(专利权)人: 艾利丹尼森公司
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵蓉民
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 测试 rfid 器件 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于测试紧密间隔排列地在一起的多个RFID器件中的至少一个的系统,所述系统包括:

(a)短距离测试器,其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符;

(b)第一长距离测试器,其用于测试定位在第一长距离测试位置的RFID器件,所述第一长距离测试器位置间隔离开所述短距离测试位置一预先确定的距离;

(c)移动装置,其用于将RFID器件从所述短距离测试位置和所述第一长距离测位置中的一个移动到另一个;以及

(d)区别装置,其用于区别定位在所述第一长距离测试位置的RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时探测到的RFID器件的结果。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述移动装置是首先将RFID器件定位在所述短距离测试位置并然后将其定位在所述第一长距离测试位置。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述移动装置首先将RFID器件定位在所述第一长距离测试位置并然后将其定位在所述短距离测试位置。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述多个RFID器件沿公共载体的长度方向均匀地间隔排列,并且其中所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置被间隔开一距离,所述距离相当于所述公共载体上的一个或多个RFID器件位置。

5.根据权利要求1所述的系统,进一步包括连接到所述区别装置的用于在发现有缺陷的RFID器件上打印记号的装置。

6.根据权利要求1所述的系统,进一步包括第一样本,其被定位在接近所述第一长距离测试位置来模拟物体,其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的。

7.根据权利要求1所述的系统,进一步包括第二长距离测试器,其用于测试定位在第二长距离测试位置的RFID器件,所述第二长距离测试位置被间隔离开并且定位在所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置之间,并且其中所述区别装置进一步区别定位在所述第二长距离测试位置的RFID器件的长距离测试的结果和任何其它同时探测到的RFID器件的结果。

8.根据权利要求7所述的系统,进一步包括第二样本,其被定位在接近所述第二长距离测试位置以模拟物体,其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的,所述第二样本与所述第一样本是不同的。

9.一种用于测试紧密地间隔排列在一起的多个RFID器件中至少一个的系统,所述系统包括:

(a)短距离测试器,其用于读取/写入定位在短距离测试位置的RFID器件的唯一标识符;

(b)第一长距离测试器,其用于测试定位在第一长距离测试位置的RFID器件,所述第一长距离测试器位置间隔离开所述短距离测试位置一预先确定的距离;

(c)移动装置,其用于将RFID器件从所述短距离测试位置移动到所述第一长距离测位置;以及

(d)促使装置,其用于促使所述第一长距离测试器只询问定位在所述第一长距离测试位置的RFID器件。

10.根据权利要求9所述的系统,进一步包括用于在发现有缺陷的RFID器件上打印记号的装置。

11.根据权利要求9所述的系统,其中所述多个RFID器件沿公共载体的长度方向上均匀地间隔排列,并且其中所述短距离测试位置和所述第一长距离测试位置被间隔离开一距离,所述距离相当于所述公共载体上的一个或多个RFID器件位置。

12.根据权利要求11所述的系统,其中所述移动装置是以移位方式移动所述公共载体,一次一个RFID器件位置。

13.根据权利要求11所述的系统,其中所述移动装置是以连续的方式移动所述公共载体。

14.根据权利要求9所述的方法,进一步包括样本,其被定位在接近所述第一长距离测试位置以模拟物体,其中所述RFID器件在使用时是与所述物体关联的。

15.根据权利要求9所述的系统,进一步包括第二长距离测试器,其用于测试定位在第二长距离测试位置的RFID器件,所述第二长距离测试位置被间隔离开并且定位在所述短距离测试位置和第一长距离测试位置之间,并且其中所述促使装置进一步促使所述第二长距离测试器只询问定位在所述第二长距离测试位置的RFID器件。

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