[发明专利]用于测试RFID器件的方法和系统

说明书

技术领域

【0001】本发明一般涉及用于测试射频识别(RFID)设备的方法和系统。特别涉及一种用于测试RFID器件的新颖的方法和系统。

背景技术

【0002】在许多情况下，以高效且无线的形式检索有关所关心物体信息的能力是非常重要的。例如，许多当前制造和分配方法要求用于检索与库存物体相关信息的无线技术，其中检索技术可被用于，例如，从库存物体的制造时刻一直到销售给消费者的时刻跟踪该库存物体的位置。用于检索有关物体的信息的一项众所周知的无线技术包括将该物体连接到射频识别(RFID)设备，该设备存储了该物体相关信息的并将这些信息无线传输到一个电子阅读器以响应无线询问。存储在RFID器件上的信息的类型包括，例如，唯一识别号，有效期，“诞生”日，制造信息，运输状态，价格信息等。

【0003】一个众所周知的RFID器件类型包括天线和安置在天线上的集成电路(IC)芯片，IC芯片已被编程以储存所需信息。当接收到询问信号时，IC芯片将所述已编程信息转换成对应的电磁信号，该信号通过天线以无线射频波传播。

【0004】典型地，多个上面所描述类型的RFID器件被制造在公共的载体连结板上，RFID器件的天线安置在载体连结板上，IC芯片安置在他们各自的天线上。单个RFID器件和它的下层部分载体连结板的组合在本领域通常被称作RFID嵌体。RFID嵌体的互连连结板被制造者制成卷状以便运输和消费者的进一步处理(消费者经常叫做“转换者”)。例如，转换者从连结板中切割单个RFID嵌体并且之后使用塑料扣件或者其它附着装置将单个RFID嵌体附着到相应的所关心的物体。替代性地，卷制造者可进一步处理RFID嵌体的连结板以产生一个粘性RFID标签连结板(参见，例如，USSN 10/961,590，在此其被并入本文作为参考)，这样转换者可以将这个样子的标签分配到物体上，或者转换者可在将标签分配到所关心物体上之前在标签上打印文字、图像或其它符号来定制标签。

【0005】应该意识到，如果有人希望能够检索与所需物体相关的信息，则不应该将有缺陷的RFID器件应用到物体。不幸的是，目前估计有缺陷的RFID器件大约占所生产的全部RFID器件的1-20％那么高，因此出现有缺陷的RFID器件是不可忽略的现象。因此，通常在RFID器件被应用到物体之前测试RFID器件的性能。这种测试是由卷制造者在将卷运到转换者之前执行，制造者应使用合适的印制标号(比如黑点)将有缺陷的嵌体或者标签标出来。这种测试也可在分配之前由转换者执行，这是因为在制造者测试之后，缺陷可能在卷运输或者卷操作中发生。由于随后阶段的成本和生产量，通常希望在供应链中能尽可能早地识别缺陷嵌体。

【0006】目前，RFID器件的测试的典型实施是通过一个或者两个不同的测试技术，也就是短距离测试和长距离测试。这两种测试技术反映了存在于天线周围区域电磁物理性质的不同。在一天线的周围有三个普遍接受的区域，也就是(i)反应近场(天线影响区域从零距离到大约(在915MHz，～52mm))，(ii)辐射近场区域(此处R＞ё/2且此处D是天线孔径最大尺寸)，和(iii)辐射远场区域(此处。短距离测试包括反应近场内的测试，长距离测试包括辐射近场或者辐射远场内的测试。总之，长距离测试对现实生活应用可能更真实，其中RFID器件可能被应用到一个物体并然后在辐射近场或者远场区域内被询问。长距离测试的一个问题是，因为共同载体连结板上RFID器件彼此之间很接近，测试器发射的询问信号常常引起多个邻近RFID器件的响应，许多这种响应都会同时被测试器探测到。因为当前没有方法使响应RFID器件的响应与响应RFID器件的物理位置相关联(因为RFID器件的唯一标识符常常不遵循特别的顺序并且事实上是随机的)，即使阅读器知道存在有缺陷的设备，仍然没有方法知道响应设备中的哪个是检测到的有缺陷的设备。

【0007】前述问题的一个解决方法是在连结板上放置一个有孔的金属罩，这样在询问信号范围内所有的设备除了定位在孔径内的设备外，其它设备都被屏蔽而不接受询问信号。这种方法的一个例子在2000年8月15日授权的发明者为Beauvillier等人的美国专利号6,104,291中公开，其在此被并入本文作为参考。这种方法的一个缺点是屏蔽自身，代表远离“场内”设备被常常暴露的操作条件，可能影响正被测试的设备的性能特性。