[发明专利]感光性树脂组合物和层压体无效

专利信息
申请号: 200580051141.5 申请日: 2005-07-22
公开(公告)号: CN101228196A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 秦洋介;森彻 申请(专利权)人: 旭化成电子材料元件株式会社
主分类号: C08F20/10 分类号: C08F20/10;C08F290/06;C08F265/00;G03F7/004;G03F7/028;G03F7/033;B32B7/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 感光性 树脂 组合 层压
【权利要求书】:

1.一种感光性树脂组合物,其特征在于,其含有:(a)20~90质量%的热塑性共聚物,其包含含有α,β-不饱和羧基的单体作为共聚成分,该热塑性共聚物的酸当量为100~600,重均分子量为5000~500000;(b)5~75质量%的具有至少一个末端烯属不饱和基团的加成聚合性单体;(c)0.01~30质量%的包含六芳基双咪唑的光聚合引发剂;及(d)0.001~10质量%的下述通式(I)所示的吡唑啉化合物。

(式中A、B及C各自独立地表示选自芳基、杂环基、碳原子数为3以上的直链或支链的烷基、以及NR2(R为氢原子或烷基)所组成的组中的取代基,a,b和c分别是0~2的整数,a+b+c的值为1以上。)

2.根据权利要求1所述的感光性树脂组合物,其中,吡唑啉化合物(d)为下述通式(I)所示的吡唑啉化合物。

(式中B和C各自独立地是碳原子数为3以上的直链或支链的烷基、或NR2(R为氢原子或烷基),A表示选自芳基、杂环基以及碳原子数为3以上的直链或支链的烷基所组成的组中的取代基,a为0或1,b=c=1。)

3.根据权利要求1所述的感光性树脂组合物,其特征在于,吡唑啉化合物(d)包括1-苯基-3-(4-叔丁基-苯乙烯基)-5-(4-叔丁基-苯基)-吡唑啉或1-(4-(苯并噁唑-2-基)苯基)-3-(4-叔丁基-苯乙烯基)-5-(4-叔丁基-苯基)-吡唑啉或两者的混合物。

4.根据权利要求1~3任一项所述的感光性树脂组合物,其特征在于,加成聚合性单体(b)含有下述通式(II)所示的化合物或下述通式(III)所示的化合物或两者的混合物。

(式中,R1和R2是H或CH3,它们可以相同也可以不同,另外,D和E是碳原子数为2~4个的亚烷基,各自可以相同也可以不同,不同的情况下,-(D-O)-和-(E-0)-的重复单元可以是嵌段结构也可以是无规结构,m1、m2、n1和n2是0或正整数,它们的总和为2~30。)

(式中,R3和R4是H或CH3,它们可以相同也可以不同,另外,F和G是碳原子数为2~4个的亚烷基,各自可以相同也可以不同,不同的情况下,-(F-O)-及-(G-O)-的重复单元可以是嵌段结构也可以是无规结构,p1、p2、q1和q2是0或正整数,它们的总和为2~30。)

5.一种感光性树脂层压体,其是在支撑体上层压权利要求1~4任一项所述的感光性树脂组合物而制成的。

6.一种抗蚀图案的形成方法,其包括在基板上使用权利要求5所述的感光性树脂层压体形成感光性树脂层的层压工序、曝光工序、和显影工序。

7.根据权利要求6所述的抗蚀图案的形成方法,其特征在于,在所述曝光工序中,通过直接描绘来曝光。

8.一种印刷线路板的制造方法,其包括对由权利要求6或7所述的方法形成了抗蚀图案的基板进行蚀刻或镀敷的工序。

9.一种引线框的制造方法,其包括对由权利要求6或7所述的方法形成了抗蚀图案的基板进行蚀刻的工序。

10.一种半导体封装的制造方法,其包括对由权利要求6或7所述的方法形成了抗蚀图案的基板进行蚀刻或镀敷的工序。

11.一种具有凹凸图案的基材的制造方法,其包括通过喷砂对由权利要求6或7所述的方法形成了抗蚀图案的基板进行加工的工序。

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