[发明专利]半导体器件的寿命的动态估算有效

专利信息
申请号: 200580052138.5 申请日: 2005-12-30
公开(公告)号: CN101313226A 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: X·韦拉;J·阿韦利亚;O·云萨尔;O·埃尔金;A·冈萨雷斯 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G06F11/30;G07C3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 邬少俊;王英
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 寿命 动态 估算
【权利要求书】:

1.一种控制方法,包括:

获得处理器的动态工作参数信息;

基于所述动态工作参数信息确定所述处理器的动态使用情况;

基于所述动态使用情况动态估算所述处理器的剩余寿命;以及

基于所述估算剩余寿命控制所述处理器,

其中控制所述处理器包括基于所述估算剩余寿命向所述处理器的所选 内核导引一个或多个程序。

2.根据权利要求1所述的控制方法,其中确定所述处理器的动态使用 情况包括对于所述处理器的一个或多个资源确定动态使用情况。

3.根据权利要求1所述的控制方法,其中确定所述动态使用情况包括, 对于工作时间间隔,利用所述工作时间间隔的动态工作参数信息和静态工 作参数信息执行计算,以获得动态工作使用情况。

4.根据权利要求3所述的控制方法,其中确定所述动态使用情况包括, 对于所述工作时间间隔,基于所述动态工作参数信息的一部分确定所述处 理器的动态空闲使用情况。

5.根据权利要求4所述的控制方法,还包括基于所述动态工作使用情 况和所述动态空闲使用情况确定所述处理器的总使用情况。

6.根据权利要求1所述的控制方法,其中向所述处理器的所选内核导 引一个或多个程序包括向所述处理器的使用最少的内核或者使用最多的内 核导引所述一个或多个程序。

7.根据权利要求5所述的控制方法,还包括将所述总使用情况与所述 处理器的估算寿命进行比较,从而动态估算所述剩余寿命。

8.一种半导体设备,包括:

一种处理器,包括:

至少一个执行指令的资源;

至少一个环境传感器;以及

耦合到所述至少一个环境传感器的逻辑,其用于基于来自所述至少 一个环境传感器的信息确定所述至少一个资源的实际损耗;

基于利用所述实际损耗确定的估算剩余寿命控制所述处理器的控制 器,

其中所述处理器包括对应于所述处理器的允许寿命的寿命值,所述寿 命值保存在所述处理器的非易失性存储器中。

9.根据权利要求8所述的半导体设备,其中所述控制器将由所述实际 损耗和稳态寿命度量确定所述估算剩余寿命。

10.根据权利要求8所述的半导体设备,其中所述逻辑将周期性地更 新所述实际损耗。

11.根据权利要求8所述的半导体设备,其中所述逻辑将利用根据第 一计算确定的工作损耗和根据第二计算确定的非工作损耗确定实际损耗, 其中所述非工作损耗对应于所述至少一个资源处于非工作状态的时间周 期。

12.根据权利要求8所述的半导体设备,其中所述逻辑将利用所述处 理器的当前电压、当前温度和当前频率以及与所述处理器相关的稳态电压、 稳态温度和稳态频率确定所述实际损耗。

13.根据权利要求8所述的半导体设备,其中所述逻辑包括在所述处 理器的至少一个资源上执行微码的微控制器。

14.根据权利要求8所述的半导体设备,其中,所述处理器包括寿命 终止逻辑,其用于在所述估算剩余寿命基本对应于所述允许寿命时使所述 处理器失效。

15.一种半导体系统,包括:

执行指令的第一处理器,所述第一处理器包括:

至少一个执行指令的内核;以及

至少一个热监视器;

耦合到所述至少一个热监视器的第一控制器,其用于利用来自所述至 少一个热监视器的信息确定所述第一处理器的估算剩余寿命;

耦合到所述执行指令的第一处理器的第二处理器;

耦合到所述第一处理器和第二处理器的第二控制器,其用于接收来自 所述第一控制器的所述估算剩余寿命,并且基于所述估算剩余寿命至少对 所述第一处理器的使用情况进行控制;以及

耦合到所述第一处理器和所述第二处理器的动态随机存取存储器 (DRAM)。

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