[发明专利]光盘偏心的测量方法

权利要求书

1.一种光盘偏心测量方法，其特征在于：所述测量方法包括：

a.将光盘伺服系统设置为聚焦闭环循迹开环状态；

b.获得所述光盘伺服系统在读取预检测光盘时产生的道跟踪误差信号，并确定所述道跟踪误差信号中高频段的正弦波数量；

c.将所述正弦波数量乘以轨道间距，以确定所述预检测光盘的偏心值；

其中，在所述步骤b中，进一步包括：

利用足够高的采样频率f采集所述道跟踪误差信号以获得采样数据；

对所述采样数据取平均，以获得零电平；

确定所有过零采样点及对应两相邻过零采样点的过零间隔；

在每预定数量k的采样点中确定最大的过零间隔，并将对应信号段作为标志段；

计算每相邻两个标记段的过零采样点数量并求平均值；以及

将所述平均值除以2，以确定所述正弦波数量。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：在所述步骤b中，进一步包括将所述光盘伺服系统的主轴电机转速设为一倍速。

3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于：在所述步骤b中进一步包括在采样处理前对所述道跟踪误差信号进行低通滤波。

4.根据权利要求3所述的测量方法，其特征在于：所述道跟踪误差信号为所述预检测光盘旋转多周的道跟踪误差信号。

5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于：所述预定数量k为所述预检测光盘旋转半周的采样点数量。

6.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于：所述预定数量k由观察所述道跟踪误差信号的波形确定。

7.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于：所述预定数量k由所述预检测光盘的角速度ω和所述采样频率f确定，其中：

8.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于：所述预定数量k由所述预检测光盘的角速度ω和所述采样频率f确定，其中：

9.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述测量方法进一步包括：确定所述光盘伺服系统的机芯偏心，并依据所述机芯偏心对所述预检测光盘的偏心值进行校正。