[发明专利]光盘偏心的测量方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种光盘偏心的测量方法，特别涉及一种基于聚焦闭环循迹开环道跟踪误差信号来测量光盘偏心的方法。

【背景技术】

偏心ECC(Eccentricity)是用来衡量光盘质量的非常重要的指标，它是指光盘信道几何中心与盘中心孔几何中心之间的偏差。在驱动器中光学头读取信息时，轨道跟踪伺服机构使光学头在半径方向快速移动，跟随轨道读出信息。由于径向跟踪伺服机构的跟踪能力和频率响应有一定的范围，而光学头的惰性又会限制伺服机构的反应速度，因此偏心值太高会影响光学头的轨道跟踪。红皮书规定CD唱盘的偏心指标范围是±70μm，黄皮书规定CD-ROM盘片的偏心指标范围是±50μm。这是因为CD-ROM的随机访问情况比CD多。偏心值高使得轨道搜索困难，导致了随机访问时间的增加。在实际中，往往由于信息轨道的损坏使驱动器难以锁定轨道，这种情况的出现也与偏心值太高有关。事实上以上指标是在一倍速的情况下制定的，而目前的光盘读写速度往往是几十倍速(如8×、12×、16×、24×、32×等)。在驱动器跟踪能力不变的情况下，这意味着速度每增加一倍，偏心指标要求缩小一半。因此，盘片复制厂必须重视盘片的偏心指标，努力使偏心值降到最小，以适应高速读写盘片的要求。复制盘偏心的产生往往由于压模(Stamper)的偏心，因此，加工压模的单位在冲中心孔时一定要严格控制偏心。

【发明内容】

本发明为了解决光盘偏心测量的技术问题提供了一种基于聚焦闭环循迹开环道跟踪误差信号来测量光盘偏心的方法。

本发明为了解决光盘偏心测量的技术问题所采用的技术方案是：提供一种光盘偏心测量方法，该测量方法包括：a.将光盘伺服系统设置为聚焦闭环循迹开环状态；b.获得光盘伺服系统在读取预检测光盘时产生的道跟踪误差信号，并确定道跟踪误差信号中高频段的正弦波数量；c.将正弦波数量乘以轨道间距，以确定预检测光盘的偏心值。

根据本发明一优选实施例，步骤b中，包括将光盘伺服系统的主轴电机转速设为一倍速，利用足够高的采样频率f采集道跟踪误差信号以获得采样数据。

根据本发明一优选实施例，道跟踪误差信号为预检测光盘旋转多周的道跟踪误差信号。

根据本发明一优选实施例，在步骤b中进一步包括在采样处理前对多个道跟踪误差信号进行低通滤波。

根据本发明一优选实施例，在步骤b中，进一步包括：对采样数据取平均，以获得零电平；确定所有过零采样点及对应两相邻过零采样点的过零间隔；在每预定数量k的采样点中确定最大的过零间隔，并将对应信号段作为标志段；计算每相邻两个标记段的过零采样点数量并求平均值；以及将平均值除以2，以确定正弦波数量。

根据本发明一优选实施例，预定数量k为预检测光盘旋转半周的采样点数量。

根据本发明一优选实施例，预定数量k由观察道跟踪误差信号的波形确定。

根据本发明一优选实施例，预定数量k由预检测光盘的角速度ω和采样频率f确定，其中：k=πfω.]]>

根据本发明一优选实施例，预定数量k由预检测光盘的角速度ω和采样频率f确定，其中：πfω<k<2πfω.]]>

根据本发明一优选实施例，确定光盘伺服系统的机芯偏心，并依据机芯偏心对预检测光盘的偏心值进行校正。

上述方法的有益效果是：本发明提出的偏心测量方法只需采集聚焦闭环循迹开环跟踪误差信号，适用于弹性实验操作，实验参数可调，主轴电机转速及光头的位置可调。操作简单，适用于所有盘片的测量，具有较高的精度。

【附图说明】

图1是盘片旋转一周的TE信号；

图2是盘片旋转多周的TE信号；

图3是偏心实验值与实际值对比图。

【具体实施方式】

下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。