[发明专利]电连接器综合检测控制装置设计方法有效
申请号: | 200610066468.6 | 申请日: | 2006-04-03 |
公开(公告)号: | CN101051067A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
发明(设计)人: | 刘越 | 申请(专利权)人: | 航天科工防御技术研究试验中心 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 | 代理人: | 岳洁菱 |
地址: | 100854*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连接器 综合 检测 控制 装置 设计 方法 | ||
1.一种电连接器综合检测控制装置设计方法,其特征是:由该方法设计的电连接器综合检测控制装置由主机(4)和专用测试电缆(5)组成,专用测试电缆(5)的两端各有一个接口,其中能与被测电连接器相插接的接口(6)是一个电连接器,将该电连接器的接触点分为三组测试点,确定任意一个接触点编为第一组的测试点,与它相邻且最近的任意一个接触点编为第二组的测试点,将距第一组测试点和与其相邻的第二组测试点都相邻且最近的接触点编为第三组测试点,将距第一组测试点和与其相邻的第三组测试点都相邻且最近的接触点编为第二组的测试点,将距第二组测试点和与其相邻的第三组测试点都相邻且最近的接触点编为第一组的测试点,以此类推,向外围扩散式编号,直至将所有接触点都分到各组,将外壳分为第四组测试点,若外壳为绝缘体则不需要第四组测试点,所有的电连接器接触点的分组方式与上述相同,专用测试电缆的另一个接口为将这四组测试点的尾线与接线柱插头压接构成四个接线柱插头,如果没有尾线则在尾部通过导线与接线柱插头压接构成四个接线柱插头;主机是由外壳(1),前面板(2),后面板(3),双刀三层六位波段开关(15),与专用测试电缆(5)相连接的第一组测试点的插座(11)、第二组测试点的插座(12)、第三组测试点的插座(13)和第四组测试点的插座(14),绝缘电阻测试仪正极插座(18)、绝缘电阻测试仪负极插座(19),介质耐压测试仪正向插座(20)、介质耐压测试仪反向插座(21),电源插座(22),指示装置(17)和转换开关(16)组成,其中双刀三层六位波段开关(15)共有三层,每一层之间彼此绝缘,每一层的两组开关彼此绝缘,每一组各包括一个常闭点和四个波段点,将每组最靠近常闭点的波段点设为一号波段点、其次为二号波段点、然后是三号波段点、最后是四号波段点,双刀三层六位波段开关(15)的焊接分为三层;第一层:第一组测试点插座(11)通过导线与第一组的常闭点(23)焊接,第二组测试点插座(12)与第二组的常闭点(24)焊接,将绝缘电阻测试仪的正极插座(18)与第一组的一号波段点(25)焊接,绝缘电阻测试仪负极插座(19)与第二组的一号波段点(29)焊接,将介质耐电压测试仪的正向插座(20)与第一组的三号波段点(27)焊接,介质耐电压测试仪反向插座(21)与第二组的三号波段点(31)焊接;第二层:第三组测试点插座(13)与第二组的常闭点(24)焊接,将绝缘电阻测试仪的负极插座(19)与第二组的一号波段点(29)焊接,将介质耐电压测试仪的反向插座(21)与第二组的三号波段点(31)焊接;第三层:第二组测试点插座(12)通过导线与第一组的常闭点(23)焊接,第三组测试点插座(13)与第二组的常闭点(24)焊接,将绝缘电阻测试仪的正极插座(18)与第一组的二号波段点(26)焊接,绝缘电阻测试仪负极插座(19)与第二组的二号波段点(30)焊接,将介质耐电压测试仪的正向插座(20)与第一组的四号波段点(28)焊接,介质耐电压测试仪反向插座(21)与第二组的四号波段点(32)焊接;第四组测试点插座(14)与绝缘电阻测试仪的负极插座(19)和介质耐压仪的反向插座(21)焊接;第一组测试点插座(11)、第二组测试点插座(12)、第三组测试点插座(13)、转换开关(16)、指示装置(17)和电源插座通过导线依次串联焊接,指示装置(17)、双刀三层六位波段开关(15)和转换开关(16)分别与前面板(2)螺钉固定,绝缘电阻测试仪正极插座(18)、绝缘电阻测试仪负极插座(19),介质耐电压测试仪正向插座(20)、介质耐电压测试仪反向插座(21),电源插座分别与后面板(3)螺钉固定。
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