[发明专利]静默电流侦测方法及其装置

权利要求书

1.一种对半导体组件进行侦测的装置，其特征在于，包括：

一半导体组件，具有能带间隙，并具有一第一接点及一第二接点；

一固定电源，于正常状态下连接至该半导体组件的第一接点，以提供一适当电位；

一驱动控制电路，具有一控制输出端，该控制输出端于正常状态下连接至该半导体组件的第二接点，以驱动该半导体组件；

一电位量测器，连接至该驱动控制电路的控制输出端；

据此，无论该半导体组件是否被驱动，皆能通过该电位量测器的量测结果，来判断该半导体组件是否为开路或短路状态，其中该电位量测器是一比较器，其正极连接至一参考电位，负极连接至该驱动控制电路的控制输出端；通过比较该比较器的正极电位与负极电位，判断该半导体组件是否为开路或短路状态。

2.如权利要求1所述的对半导体组件进行侦测的装置，其特征在于，该半导体组件为一或多个串接的发光二极管，且该第一接点为该一或多个串接的发光二极管的阳极接点，该第二接点为该一或多个串接的发光二极管的阴极接点。

3.如权利要求1所述的对半导体组件进行侦测的装置，其特征在于，该参考电位为该驱动控制电路的电源。

4.如权利要求1所述的对半导体组件进行侦测的装置，其特征在于，该驱动控制电路包括一NMOS晶体管，具有漏极、栅极及源极，其中该漏极为控制输出端。

5.如权利要求1所述的对半导体组件进行侦测的装置，其特征在于，该半导体组件被驱动的导通电流小于200μA。

6.一种对半导体组件的驱动控制电路进行侦测的装置，其特征在于，包括：

一半导体组件，具有能带间隙，并具有一第一接点及以第二接点；

一固定电源，于正常状态下连接至该半导体组件的第一接点，以提供一适当电位；

一驱动控制电路，具有一控制输出端，该控制输出端于正常状态下连接至该半导体组件的第二接点，以驱动该半导体组件；

一电位量测器，连接至该驱动控制电路的控制输出端；

据此，无论该半导体组件是否被驱动，都能通过该电位量测器的量测结果，来判断该半导体组件的驱动控制电路是否为漏电流，其中该电位量测器包括一比较器及一电阻，其中，该比较器的正极连接至一参考电位，该电阻的一端连接至该参考电位，另一端连接至该比较器的负极，该比较器的负极连接至该驱动控制电路的控制输出端；通过比较该比较器的正极电位与负极电位，判断该驱动控制电路是否为漏电流状态。

7.一种对半导体组件进行侦测的方法，用于判断一具有能带间隙的半导体组件的状态，于正常状态下，该半导体组件的一接点连接至一固定电源，另一接点连接至一驱动控制电路的控制输出端，该固定电源用以提供该半导体组件一适当电位，驱动控制电路用以驱动该半导体组件；一比较器的正极连接至一参考电位，负极连接至该驱动控制电路的控制输出端；据此，无论该半导体组件是否被驱动，通过比较该比较器的正极电位与负极电位，皆能判断该半导体组件是否为开路或短路的状态。

8.如权利要求7所述的对半导体组件进行侦测的方法，其特征在于，该半导体组件被驱动的导通电流小于200μA。

9.一种对半导体组件的驱动控制电路进行侦测的方法，其特征在于，用于判断一具有能带间隙的半导体组件的驱动控制电路的状态，于正常状态下，该半导体组件的一接点连接至一个固定电源，另一接点连接至一驱动控制电路的控制输出端，该固定电源用以提供该半导体组件一适当电位，驱动控制电路用以驱动该半导体组件；一比较器的正极连接至一参考电位，一电阻的一端连接至该参考电位，另一端连接至该比较器的负极，同时该比较器的负极连接至该驱动控制电路的控制输出端；通过比较该比较器的正极电位与负极电位；据此，无论该半导体组件是否被驱动，都能判断该半导体组件的该驱动控制电路是否为漏电流的状态。

10.如权利要求9所述的对半导体组件的驱动控制电路进行侦测的方法，其特征在于，该半导体组件被驱动的导通电流小于200μA。