[发明专利]提高SOC芯片测试效率的方法

权利要求书

1.一种提高SOC芯片测试效率的方法，其特征在于：对SOC进行量产测试时，把多个项目的测试结果存储在芯片中，在一定的时间内输出最终测试结果。

2.根据权利要求1所述的提高SOC芯片测试效率的方法，其特征在于：当测试结果为合格时输出一个具有一定宽度的脉冲，当测试结果为不合格时芯片的I/O口的状态不变，一直保持输出为高电平或低电平。

3.根据权利要求1或2所述的提高SOC芯片测试效率的方法，其特征在于：测试时将多个测试项目需印加的测试向量整合成一个测试向量；把整合后的测试向量印加或下载到SOC芯片上；SOC芯片运行后，该芯片内部针对每个项目进行自动测试，并将多个项目的测试结果分别存储在SOC芯片中的某些存储区内。