[发明专利]异步芯片同测装置及方法无效

专利信息
申请号: 200610119390.X 申请日: 2006-12-11
公开(公告)号: CN101201383A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 辛吉升;桑浚之;陈凯华;谢晋春;陈婷 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/303;G01R31/319;H01L21/66;G06F17/50
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 201206上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 异步 芯片 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种异步芯片同测装置,其特征在于:包括一专用电路,所述专用电路由一专用CPU、一异步响应放置区寄存器模块和一输出模块组成,所述专用CPU接受来自外部的异步信号,并将所述异步信号传输到所述异步响应放置区寄存器模块,所述输出模块与专用CPU相连或与异步响应放置区寄存器模块相连。

2.如权利要求1所述的异步芯片同测装置,其特征在于:所述专用电路包括一译码模块。

3.一种利用权利要求1所述的装置实现异步芯片同测的方法,其特征在于,包括如下步骤:

a.异步电路的异步信号连接到专用CPU的输入端;

b.专用CPU的输出端将异步信号输出到异步响应放置区寄存器模块进行暂存;

c.给芯片输入一个专用输出指令时,专用CPU接受所述专用输出指令后,从异步响应放置区寄存器模块中将同步后的信号通过与异步响应放置区寄存器模块相连的输出模块或调回到专用CPU,通过与专用CPU相连的输出模块输出所述的同步后的信号。

4.如权利要求3所述的一种异步芯片同测的方法,其特征在于:所述专用输出指令是一个指令集。

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