[发明专利]异步芯片同测装置及方法

说明书

技术领域

本发明属于集成电路测试系统，特别是涉及一种异步芯片同测装置及方法。

背景技术

在半导体测试行业中，如图1所示，异步芯片的芯片在测试过程，即使在施加相同指令的情况下，不同被测芯片(device under test DUT)的响应时间也有所不同。

在大规模量产测试过程中，由于受到芯片的响应和时钟不同步的限制，对大型测试仪设备提出了更高的要求。但是，由于成本和技术等方面的制约，大型测试仪并不支持异步芯片的多个DUT同测，一般只是支持2个或4个或8个，由于同测个数少，因此，大大降低了测试效率，同时加长测试时间，提高了测试成本。

因此，在此技术领域中，需要一种异步芯片测试系统，在有限的同测能力条件下提高测试效率，同时可以降低测试成本。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种异步芯片同测装置及方法，它可以使用同步电路的测试方式对异步电路芯片进行测试，提高测试效率。

为了解决上述技术问题，本发明异步芯片同测装置，其包括一专用电路，所述专用电路由一专用CPU、一异步响应放置区寄存器模块和一输出模块组成，所述专用CPU接受来自外部的异步信号，并将所述异步信号传输到所述异步响应放置区寄存器模块，所述输出模块与专用CPU相连或与异步响应放置区寄存器模块相连。所述专用电路包括一译码模块。

本发明所述的装置实现异步芯片同测的方法，包括如下步骤：a.异步电路的异步信号连接到专用CPU的输入端；b.用CPU的输出端将异步信号输出到异步响应放置区寄存器模块进行暂存；c.给芯片输入一个专用输出指令时，专用CPU接受所述专用输出指令后，从异步响应放置区寄存器模块中将同步后的信号通过与异步响应放置区寄存器模块相连的输出模块或调回到专用CPU，通过与专用CPU相连的输出模块输出所述的同步后的信号。所述专用输出指令是一个指令集。

根据本发明可以使用同步电路的测试方式对异步电路芯片进行测试，达到高同测数的效果，充分发挥了大型测试仪在多芯片同步测试的能力，提高测试效率的同时，降低了测试成本。

附图说明

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明：

图1是常见异步芯片测试测试过程示意图；

图2是本发明异步芯片测试过程示意图；

图3是本发明异步芯片测试电路流程图。

具体实施方式

异步电路芯片系统设计时，考虑到芯片在进行大规模量产测试时难以实现同测的问题，在异步电路中增加一个专用电路，将异步芯片测试中的响应信号存储在芯片的异步响应放置区寄存器模块中，而不是将异步信号直接输出，接收到专用输出指令后，通过输出模块输出同步后的信号。

该专用电路包括专用CPU、异步响应放置区寄存器模块和输出模块。外部的异步信号通过转用CPU的输入端输入到该专用CPU，该专用CPU接收异步信号之后，通过其输出端输出到异步响应放置区寄存器模块暂存其异步信号。

当芯片收到一个专用输出指令时，CPU接受指令之后，从异步响应放置区寄存器模块中将同步后的信号通过异步响应放置区寄存器模块相连的输出模块输出。同步后的信号也可以调回到专用CPU，通过专用CPU相连的输出模块输出同步后的信号。

专用CPU接收到专用输出指令后，对输出指令进行译码，在指令规定的时间后将同步后的信号通过输出模块输出。

如图3所示，在多个被测芯片的同测上，不同的芯片接收同步的操作指令后，开始工作，各个被测芯片工作完毕后，并不输出响应信号，而是在等待专用输出指令的到来，在规定时间T后，将通过输出模块输出同步后的信号。

该专用指令是一个复杂的指令集，不仅包括同步信号的输出请求，还包括CPU在接收到该指令后，需要经过多少个时钟之后才输出同步信号的指定时间。