[发明专利]制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架及织构分析

权利要求书

1.一种用于织构测试分析中制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于由“T”字形基准架，与基准架上的直杆(2)相配合的滑块(1)，以及与滑块(1)和基准架上的端头(3)相配合并产生压力的紧固件所组成；滑块(1)与基准架上的直杆(2)和端头(3)之间至少形成一个凹槽，在凹槽内部滑块(1)上的平面和端头(3)上的平面(5)互相平行，并且与直杆(2)上的平面成60°～85°夹角；在凹槽上部滑块(1)和端头(3)上的平面在同一平面上，并与凹槽内直杆(2)上的平面平行。

2.根据权利要求1所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：在凹槽内部滑块(1)和端头(3)上的互相平行的两个平面(5)与直杆(2)上的平面之间的夹角优选为72°～85°。

3.根据权利要求1或2所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：端头(3)是固定在直杆(2)上的，紧固件是由与滑块(1)和端头(3)相联接的螺栓或螺栓和螺母组成。

4.根据权利要求1或2所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：端头(3)是固定在直杆(2)上的，紧固件是由螺母与直杆(2)上的螺纹相配合组成。

5.根据权利要求1或2所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：端头(3)是沿着直杆(2)滑动的，紧固件是由与滑块(1)和端头(3)相联的螺栓或螺栓和螺母组成。

6.根据权利要求1或2所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：端头(3)是沿着直杆(2)滑动的，紧固件是由螺母与直杆(2)上的螺纹相配合组成。

7.根据权利要求1～6所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：滑块(1)与基准架上的直杆(2)和端头(3)之间形成一个凹槽。

8.根据权利要求1～6所述的制备大晶粒薄板材料极图测量样品的试样架，其特征在于：滑块(1)与基准架上的直杆(2)和端头(3)之间形成2～6个凹槽，且至少有两个凹槽之间的深度不同。

9.一种利用权利要求1～8所述的试样架对立方系大晶粒薄板材料进行织构测试分析的方法，其特征在于采用试样架进行组合试样的制备，利用X光衍射仪对制备出的试样的轧向所组成的面进行三张不完整极图测量，选择“二步法”对不完整极图数据进行计算斜面坐标架下试样ODF系数W_lpm′，并转换成轧制坐标架下的W_lmn，最后合成ODF。